Occasion HITACHI S-9380 II #9251638 à vendre en France

HITACHI S-9380 II
ID: 9251638
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2008
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12" Main body: HV Controller COL-CN2 Lens PS Stage controller EVAC Controller TMP Controller 1, 2 and 3 Laser Motor driver X and Y Halogen lamp Gun head Ion pump battery Utility indicator ST-Sensor PCB Solanoid assy COL-DCPS Ion pump power supply MHV PCB TMP 1, 2 and 3 VME Rack: ECPU550 ECDR100 ECDE100 ECDW100 EPIP200 C882 EOIF SIO / DIST PS DISP ECDI100 ERSP100 PC: Monitor HP PC (2) Hard Disk Drives (HDD) SSD SC2BP240 Power supply unit: UPS Main unit IP Power supply unit Transformer EFEM: Loadport right: TAS300 Loadport left: TAS300 Robot Robot controller Robot aligner Robot arm 2008 vintage.
HITACHI S-9380 II est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour analyser la surface d'un atome d'échantillon par atome. Il s'agit d'une version avancée de microscopie électronique des SEM couramment utilisés avec une variété de fonctionnalités conçues pour faciliter l'amélioration de la qualité d'image et l'analyse. C'est un excellent choix pour diverses tâches d'analyse de surface telles que les études de morphologie, de porosité, de composition élémentaire et de modification chimique de surface. Cette version avancée du SEM est capable d'obtenir des images de haute qualité d'échantillons à des grossissements élevés (jusqu'à 400 000 ×). Cela peut être réalisé par diverses méthodes, y compris l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie des électrons rétrodiffusés et l'imagerie SEM à l'aide d'une gamme de détecteurs de rayons X dispersifs d'énergie. Les capacités d'imagerie polyvalentes de cette unité la rendent inestimable pour le génie, la biologie et les applications des sciences des matériaux. En termes de résolution d'image, HITACHI S9380 II offre d'excellentes performances (une résolution d'image pouvant atteindre 0,5nm est réalisable). Ceci est rendu possible grâce à une mise à niveau significative de l'optique électronique du SEM ; comme une lentille de champ plus grande, un canon à électrons avec une luminosité améliorée, et un objectif nouvellement conçu. De plus, un canon double couleur permet aux utilisateurs d'observer des échantillons avec un contraste et une résolution plus élevés qu'un canon unique couleur. De plus, la chambre de S-9380-II est conçue pour minimiser la contamination par faisceau d'électrons de l'échantillon étudié. Les fonctions de nettoyage automatisé de la chambre permettent d'éliminer efficacement les particules étrangères de la chambre avant l'analyse. Cela garantit une meilleure précision de l'image et réduit les temps d'arrêt. S-9380 II comprend également des logiciels avancés pour la préparation d'échantillons et la manipulation d'images, ce qui en fait un choix idéal pour la recherche et les applications industrielles. L'outil de gestion des images en direct, Particulate Analyzer, réduit le temps nécessaire pour analyser et manipuler de grands ensembles de données et d'images. Les fonctionnalités de co-localisation TEM-SEM permettent aux utilisateurs d'utiliser les deux techniques microscopiques pour une seule analyse et d'étudier la structure d'un échantillon à la fois en trois dimensions et dans le spectre complet des couleurs. Dans l'ensemble, HITACHI S 9380 II est une version avancée du SEM avec une gamme de fonctionnalités conçues pour faciliter l'amélioration de la qualité d'image et l'analyse. Ses capacités d'imagerie polyvalentes, son excellente résolution d'image, ses fonctions de nettoyage automatisé des chambres et ses logiciels de pointe conviennent à une variété d'applications dans divers domaines.
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