Occasion HITACHI S-9380 II #9251638 à vendre en France
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ID: 9251638
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2008
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12"
Main body:
HV Controller
COL-CN2
Lens PS
Stage controller
EVAC Controller
TMP Controller 1, 2 and 3
Laser
Motor driver X and Y
Halogen lamp
Gun head
Ion pump battery
Utility indicator
ST-Sensor PCB
Solanoid assy
COL-DCPS
Ion pump power supply
MHV PCB
TMP 1, 2 and 3
VME Rack:
ECPU550
ECDR100
ECDE100
ECDW100
EPIP200
C882
EOIF
SIO / DIST
PS DISP
ECDI100
ERSP100
PC:
Monitor
HP PC
(2) Hard Disk Drives (HDD)
SSD SC2BP240
Power supply unit:
UPS
Main unit
IP Power supply unit
Transformer
EFEM:
Loadport right: TAS300
Loadport left: TAS300
Robot
Robot controller
Robot aligner
Robot arm
2008 vintage.
HITACHI S-9380 II est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour analyser la surface d'un atome d'échantillon par atome. Il s'agit d'une version avancée de microscopie électronique des SEM couramment utilisés avec une variété de fonctionnalités conçues pour faciliter l'amélioration de la qualité d'image et l'analyse. C'est un excellent choix pour diverses tâches d'analyse de surface telles que les études de morphologie, de porosité, de composition élémentaire et de modification chimique de surface. Cette version avancée du SEM est capable d'obtenir des images de haute qualité d'échantillons à des grossissements élevés (jusqu'à 400 000 ×). Cela peut être réalisé par diverses méthodes, y compris l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie des électrons rétrodiffusés et l'imagerie SEM à l'aide d'une gamme de détecteurs de rayons X dispersifs d'énergie. Les capacités d'imagerie polyvalentes de cette unité la rendent inestimable pour le génie, la biologie et les applications des sciences des matériaux. En termes de résolution d'image, HITACHI S9380 II offre d'excellentes performances (une résolution d'image pouvant atteindre 0,5nm est réalisable). Ceci est rendu possible grâce à une mise à niveau significative de l'optique électronique du SEM ; comme une lentille de champ plus grande, un canon à électrons avec une luminosité améliorée, et un objectif nouvellement conçu. De plus, un canon double couleur permet aux utilisateurs d'observer des échantillons avec un contraste et une résolution plus élevés qu'un canon unique couleur. De plus, la chambre de S-9380-II est conçue pour minimiser la contamination par faisceau d'électrons de l'échantillon étudié. Les fonctions de nettoyage automatisé de la chambre permettent d'éliminer efficacement les particules étrangères de la chambre avant l'analyse. Cela garantit une meilleure précision de l'image et réduit les temps d'arrêt. S-9380 II comprend également des logiciels avancés pour la préparation d'échantillons et la manipulation d'images, ce qui en fait un choix idéal pour la recherche et les applications industrielles. L'outil de gestion des images en direct, Particulate Analyzer, réduit le temps nécessaire pour analyser et manipuler de grands ensembles de données et d'images. Les fonctionnalités de co-localisation TEM-SEM permettent aux utilisateurs d'utiliser les deux techniques microscopiques pour une seule analyse et d'étudier la structure d'un échantillon à la fois en trois dimensions et dans le spectre complet des couleurs. Dans l'ensemble, HITACHI S 9380 II est une version avancée du SEM avec une gamme de fonctionnalités conçues pour faciliter l'amélioration de la qualité d'image et l'analyse. Ses capacités d'imagerie polyvalentes, son excellente résolution d'image, ses fonctions de nettoyage automatisé des chambres et ses logiciels de pointe conviennent à une variété d'applications dans divers domaines.
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