Occasion HITACHI S-9380 II #9269824 à vendre en France
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ID: 9269824
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2004
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12"
2004 vintage.
HITACHI S-9380 II est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour permettre aux chercheurs d'explorer les caractéristiques nanométriques et microéchelles des échantillons à haute résolution et sensibilité. Ce SEM combine des capacités analytiques avec un haut degré d'automatisation pour rationaliser l'acquisition et l'analyse d'images. HITACHI S9380 II utilise un canon à émission de champ froid (CF) pour produire des images à haute résolution de caractéristiques nanométriques. Il est capable d'agrandir des échantillons jusqu'à 1000.000x avec la capacité de mesurer de très petites caractéristiques telles que des atomes individuels ou des molécules. Les images haute résolution sont rendues possibles par la précision du canon à électrons, qui est capable de produire un faisceau d'électrons d'une taille de 1.2nm, et la stabilité des conditions d'image atteintes au sein de l'instrument. Le SEM est équipé d'un équipement d'imagerie à pression réduite qui minimise la contamination causée par les molécules de gaz, idéal pour explorer des échantillons délicats tels que des protéines ou des molécules organiques. De plus, il est équipé d'un étage d'échantillonnage automatisé, qui permet de basculer l'échantillon pour observer de multiples facettes de l'échantillon. L'étape d'échantillonnage automatisé et le système d'imagerie de S-9380-II peuvent être programmés pour scanner l'échantillon et acquérir des données, permettant aux chercheurs de capturer des images à haute résolution sur de grandes surfaces. Le logiciel inclus avec l'unité permet aux utilisateurs de générer des images virtuelles 3D de l'échantillon à partir des données recueillies avec l'analyse automatisée. HITACHI S-9380-II comprend également un certain nombre de capacités analytiques, telles que l'EDX (spectroscopie des rayons X dispersive d'énergie) et la CL (cathodoluminescence), qui permettent aux chercheurs d'identifier et de quantifier la composition élémentaire du spécimen à partir du SEM. Outre ses capacités d'imagerie et d'analyse, S-9380 II est équipé d'interfaces logicielles qui permettent aux utilisateurs de contrôler facilement le fonctionnement de la machine et de transférer les données acquises à des systèmes externes pour une analyse plus approfondie. Dans l'ensemble, le S 9380 II est un microscope électronique à balayage puissant et avancé conçu pour répondre aux besoins des chercheurs qui explorent les caractéristiques micro- et nanométriques des échantillons. Avec ses capacités d'imagerie haute résolution, l'utilisation d'un balayage automatisé et de systèmes d'analyse intégrés, HITACHI S 9380 II est un outil idéal pour explorer les caractéristiques nanométriques des spécimens.
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