Occasion HITACHI S-9380 #293811117 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI S-9380 (SEM) est un outil polyvalent pour l'imagerie d'un large éventail de types d'échantillons. HITACHI S9380 offre des performances élevées avec rapidité et fiabilité. Le SEM est un outil polyvalent qui permet d'imiter une gamme d'échantillons, dont des échantillons biologiques, des échantillons de polymères et des nanomatériaux. S 9380 a une colonne électronique nouvellement conçue avec une lentille électrostatique coaxiale de type double pôle. Cela permet de fournir un grand champ de vision pouvant atteindre 33 mm et une résolution d'imagerie supérieure de 3 nm. S9380 a également une grande stabilité électronique et une vitesse de balayage rapide allant jusqu'à 5,5 kHz. Cela permet l'imagerie à grande vitesse ou l'imagerie en direct d'échantillons avec des mouvements rapides. S-9380 dispose d'un détecteur numérique avancé pour l'imagerie d'échantillons avec une grande sensibilité et un faible niveau de bruit. Cela aide à capturer même les détails les plus subtils de l'échantillon. Le détecteur fournit une grande dynamique avec une plage de 16 bits pour un rapport signal/bruit de 14000:1. Le détecteur est capable de capturer des caractéristiques aussi petites que 2nm. HITACHI S 9380 dispose également d'un système de détection automatisé, qui permet la cartographie et l'analyse automatisées des caractéristiques de surface. Cela aide le chercheur à accélérer le processus d'analyse des données. Le système automatisé peut détecter de petites caractéristiques telles que des micro-fissures et des micro-particules. Dans l'ensemble, HITACHI S-9380 est un puissant microscope électronique à balayage offrant une large gamme de caractéristiques. Il dispose d'une nouvelle colonne électronique avec une lentille électrostatique coaxiale de type double pôle, une grande stabilité électronique et un taux de balayage rapide, un détecteur numérique avancé avec une grande dynamique et un faible niveau de bruit, et un système de détection automatisé pour analyser les caractéristiques de surface dans les échantillons. C'est un outil polyvalent qui peut être utilisé dans diverses applications.