Occasion HITACHI SPC-100 #9203881 à vendre en France

HITACHI SPC-100 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour produire des images à haute résolution d'échantillons dans une variété de matériaux. Avec un vide de 10-6 torr, le microscope est capable de grossissements allant de 10X à 200KX. Il peut fonctionner à la fois en mode vide normal/haut et en mode vide faible, selon l'échantillon. Il a une source d'électrons qui peut émettre des faisceaux de 0,2 nm à 5nm de diamètre. SPC-100 comprend également l'imagerie électronique secondaire (SE), l'imagerie par émission de champ et l'imagerie électronique à transmission (TE). L'imagerie SEM est très sensible et peut détecter même les plus petites différences de morphologie, de topographie et de composition d'un échantillon. Il est également capable d'enregistrer des images jusqu'à 60fps. Grâce à son émetteur Schottky dans l'objectif, HITACHI SPC-100 a amélioré la résolution temporelle. Cela permet aux utilisateurs d'obtenir des images haute résolution à des taux d'image élevés. Il a également la capacité d'imiter des échantillons non conducteurs en mode basse dépression. Cela signifie qu'il peut représenter un large éventail de matériaux, pas seulement des échantillons conducteurs. Le microscope est équipé d'une suite complète de logiciels d'imagerie, qui comprend des outils pour mesurer les caractéristiques, analyser les échantillons en trois dimensions et effectuer des mesures complexes. Il dispose également d'une interface utilisateur intuitive, permettant aux utilisateurs d'obtenir rapidement et facilement les résultats dont ils ont besoin de leurs échantillons. La polyvalence de SPC-100 le rend adapté à une variété d'applications, allant de la caractérisation de surface et de la recherche matérielle au contrôle des processus et à l'analyse des défauts. Ses capacités d'imagerie avancées, combinées à sa haute résolution et à sa facilité d'utilisation, en font un choix idéal pour ceux qui ont besoin de données précises et détaillées de leurs échantillons.