Occasion HITACHI SPC-100B #293629416 à vendre en France

HITACHI SPC-100B est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre une gamme de fonctions, telles que l'analyse des surfaces, la caractérisation des matériaux et les études de particules. Le microscope a été conçu avec des capacités d'imagerie avancées et est équipé de commandes d'étage de précision et de capacités motorisées et manuelles qui peuvent aider à contrôler les mouvements de l'échantillon. HITACHI SPC-100 B a une source d'électrons thermioniques qui se compose de filaments de tungstène, pour assurer une haute qualité d'émission de faisceau d'électrons. La conception de la source minimise également l'influence du rayonnement due à la luminosité et à la tension du faisceau. La source STEM présente une faible divergence de faisceau, ce qui permet de détecter et d'analyser les particules avec une grande précision. Le microscope a une large gamme de fonctions analytiques telles que la spectroscopie d'énergie électronique, la diffraction électronique et l'analyse des rayons X dispersifs d'énergie. Il dispose également d'un système de contrôle d'étage qui permet d'examiner l'échantillon avec un haut degré de contrôle. Ce système offre également une variété d'étages, y compris un étage mono-axe, double-axe et 3-axe. Le microscope dispose également d'un logiciel d'analyse, TEM/STEM Analyzer, qui permet à l'utilisateur d'accéder à de puissants outils d'analyse de données. Il peut être utilisé pour analyser des données à l'appui d'expériences telles que l'imagerie haute résolution, la reconstruction d'images bidimensionnelles et tridimensionnelles, la ségrégation des éléments, l'analyse d'images 3D et la cartographie d'orientation. SPC-100/B offre également une variété d'accessoires qui peuvent aider à étendre son utilisation pour diverses configurations expérimentales. Ces accessoires comprennent des étages pour la spectroscopie électronique et la microscopie électronique à transmission à balayage (STEM), ainsi que des porte-échantillons pour la microscopie électronique à balayage (SEM). En termes de sécurité, HITACHI SPC-100/B est équipé d'une contre-chicane antistatique facilement nettoyable qui peut aider à minimiser l'exposition des utilisateurs aux rayonnements. Il est également équipé d'une fenêtre de spectroscopie électronique qui peut réduire le risque d'électrocution et d'autres dangers. SPC-100B est un instrument idéal pour une variété d'applications avancées d'imagerie et d'analyse. Il peut aider à élargir la gamme de matériaux et de configurations d'échantillons qui peuvent être étudiés et constitue un choix fiable et rentable pour des études approfondies.