Occasion HITACHI SU-1510 #293604810 à vendre en France

ID: 293604810
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI SU-1510 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour examiner les surfaces et la structure interne d'une grande variété de matériaux. Il produit des images et des données grâce à l'utilisation combinée de faisceaux d'électrons interagissant avec la surface de l'échantillon, et d'électrons secondaires et rétrodiffusés recueillis à partir de l'échantillon. Ces informations sont ensuite assemblées à l'aide d'un logiciel d'imagerie polyvalent, créant une image tridimensionnelle haute résolution de la surface du spécimen et des fissures ou défauts qui s'y trouvent. HITACHI SU1510 utilise une colonne optique électronique à haute résolution ; une source d'électrons ; et un équipement sous vide pour produire le faisceau d'électrons nécessaire à l'examen de l'échantillon. Il comporte également un ensemble de fixation pour positionner l'échantillon, et un insert porte-échantillon pour suspendre l'échantillon en toute sécurité pendant le fonctionnement. Lorsque l'échantillon est sécurisé, le faisceau d'électrons est dirigé dans une colonne, qui est alors focalisée et dirigée sur la surface de l'échantillon. Ce processus permet au SEM de capturer des images haute résolution des détails à l'intérieur de l'échantillon. Le système de vide SU 1510 permet de maintenir la stabilité du faisceau d'électrons en balayant l'échantillon. Cette unité est composée d'un générateur de vide et d'une machine de pompage, qui assurent l'évacuation continue des gaz hors de l'échantillon et dans l'outil d'échappement. Ceci évite toute interaction inattendue entre les gaz et le faisceau d'électrons, augmente la stabilité du faisceau et minimise les risques de contamination. SU1510 est équipé d'un outil d'imagerie numérique automatisé pour la rétrodiffusion EL, la luminosité de contraste, la cartographie élémentaire edax et l'instruction de superposition d'images. Il produit également des données semi-quantitatives pour la recherche, les essais et l'analyse. HITACHI SU 1510 intègre plusieurs conceptions pour minimiser la dérive des spécimens, comme l'incorporation de lentilles céramiques et tunnels. Ces solutions ont considérablement amélioré la précision et la stabilité du faisceau d'électrons au cours des temps de balayage prolongés. SU-1510 est conçu pour manipuler une variété d'échantillons allant des métaux aux céramiques et polymères en passant par les composites dans une gamme de formes et de tailles d'échantillons. Il a une vue large, 6 "de champ large qui permet d'inspecter les échantillons facilement et rapidement. HITACHI SU-1510 offre également de nombreuses capacités de grossissement, ainsi que des composants rotatifs et polarisés qui permettent plus d'actions et une plus grande polyvalence. En outre, il offre un choix de nombreuses fonctionnalités avancées et optionnelles.
Il n'y a pas encore de critiques