Occasion HITACHI SU-1510 #9351987 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI SU-1510 est un instrument à haute puissance et haute résolution utilisé pour examiner la forme, la forme et la structure interne de divers matériaux, depuis la surface des échantillons inorganiques jusqu'aux structures intracellulaires des cellules vivantes. Au cœur, HITACHI SU1510 utilise un microscope électronique à balayage pour générer des images de surfaces de spécimens avec des niveaux de détail plus élevés que par d'autres techniques de microscopie. Il utilise un nuage d'électrons pour examiner la surface de l'échantillon, fournissant des images avec une grande profondeur de champ, un degré élevé de détail de surface, et des capacités d'imagerie 3D. SU 1510 offre l'acquisition d'images avec une haute résolution de 10 nm, ce qui le rend idéal pour l'imagerie de détails fins d'échantillons minute. Il offre également une focalisation automatique, ce qui signifie que le microscope peut se concentrer automatiquement sur la détection du point focal de la zone centrale de la surface d'un spécimen et maintenir le foyer sans avoir besoin d'une intervention de l'utilisateur. Cela garantit que l'échantillon est toujours au point et que le détail de l'image est maximisé. En plus des capacités d'imagerie, SU1510 comprend des fonctions logicielles avancées pour l'amélioration et l'analyse de l'image. De telles capacités permettent aux utilisateurs d'obtenir des images plus significatives, tout en permettant des mesures fiables des images. L'imagerie haute résolution est réalisée par le système de balayage multi-modes SU-1510, ce qui contribue à réduire le bruit du signal et à préserver les conditions de surface de l'échantillon. Ceci, combiné à sa focalisation automatisée, vise à fournir des résultats fiables et reproductibles. Le système comporte également des caractéristiques telles qu'un dispositif de refroidissement thermoélectrique d'échantillon et un alignement incident de faisceau d'électrons. Le dispositif de refroidissement permet de réduire la déformation de l'échantillon due à la chaleur générée par la source de faisceau d'électrons, tandis que l'alignement incident assure un alignement correct du faisceau d'électrons avant sa projection sur l'échantillon. HITACHI SU 1510 est un instrument idéal pour diverses tâches de recherche scientifique, telles que l'analyse matérielle, la recherche médicale et l'analyse industrielle. En particulier, ses fonctionnalités avancées pour l'imagerie et l'analyse en font un choix parfait pour les applications qui nécessitent une imagerie et une analyse précises et axées sur les détails.