Occasion HITACHI SU-3500 #293817730 à vendre en France

HITACHI SU-3500 est un microscope électronique à balayage par émission de champ (FE) conçu pour l'imagerie et l'analyse d'échantillons à haute résolution. En utilisant une nouvelle combinaison de canons à électrons à émission de champ (FEG) et une tourelle d'objectif réglable, SU-3500 produit des images avec un bruit de fond extrêmement faible, un contraste élevé et une résolution inférieure à 1,5 nm. Ce système puissant dispose également d'une interface utilisateur automatisée facile à utiliser permettant l'imagerie à grande vitesse et l'acquisition de données. HITACHI SU-3500 dispose d'un détecteur de luminescence avancé et d'un grand boîtier électronique sélectionnable, capable de détecter des électrons, des électrons rétrodiffusés (ESB) et des électrons secondaires (SE) pour produire des images de diverses caractéristiques et matériaux à la surface de l'échantillon. De plus, ce SEM comporte également une plage de balayage variable de 0,1 µm à 400 µm et une vitesse de balayage variable pour permettre différents types d'analyse d'échantillons. La puissance de cet instrument réside dans sa capacité à focaliser les ions en de très petites taches, ce qui permet d'augmenter le grossissement et le contraste de l'image. Avec une chambre à vide en se vantant d'un impressionnant 3Pa la pression basée, les demandes d'échantillon de précision sont possibles avec le haut débit reflétant. Avec le détecteur de l'ESB et les vitesses de balayage variables, l'imagerie simultanée multi-modes permet l'imagerie détaillée de sous-motifs isolés électriquement ou de motifs formés par une large gamme de changements de composition de matériaux différents. En outre, SU-3500 dispose d'un ensemble d'analyses avancées et d'un détecteur EDS ultra-bas bruit qui sont capables de quantifier les concentrations élémentaires même à l'échelle nanométrique, ce qui rend ce SEM idéal pour les applications d'analyses scientifiques et industrielles. De plus, la chambre à vide est équipée d'une étape de préparation d'échantillons qui peut être utilisée pour ajouter des produits chimiques ou des gaz à l'échantillon ou pour introduire des tensions élevées afin de contrôler les propriétés de surface ou analyser une image. En conclusion, HITACHI SU-3500 FE-SEM offre un système avancé de balayage à faible bruit avec une multitude de capacités pour l'imagerie optimale et l'analyse quantitative des échantillons. Avec son puissant logiciel de collecte et d'analyse automatique d'images, SU-3500 est un outil idéal pour une variété d'activités de recherche allant de la science des matériaux à la biologie.