Occasion HITACHI SU-70 #9049699 à vendre en France

HITACHI SU-70 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument d'imagerie de pointe qui fournit un niveau inégalé de qualité d'imagerie et de polyvalence. Il est conçu avec des capacités analytiques avancées, permettant l'examen d'échantillons d'un large éventail de matériaux. Le SEM peut être utilisé pour étudier diverses propriétés électroniques dans un détail et pour analyser les matériaux jusqu'au niveau atomique. Le SEM dispose d'un haut niveau de résolution pour l'imagerie, caractérisé par son excellente clarté d'image et profondeur de champ. Une image précise peut être obtenue rapidement et facilement, avec la numérisation de tous les paramètres, y compris la luminosité, le contraste, la couleur, et plus encore. L'instrument offre également un large éventail d'améliorations d'image pour faire ressortir les détails d'un échantillon. Le SEM dispose également d'un large éventail de capacités énergétiques, permettant l'étude de matériaux sur un large éventail d'énergies. Cette couverture d'énergie de très faible à haute le rend adapté à une variété d'applications telles que l'analyse de surface, la cristallographie, l'imagerie électronique secondaire, et la spectroscopie électronique Auger. Le système dispose de plusieurs fonctionnalités automatisées, telles que le piquage d'image, qui permettent une analyse plus approfondie. Au cœur du système se trouve une source d'électrons d'émission de champ de Schottky à haute résolution. Cette source est très stable et génère un faisceau d'électrons étroit de faible tache, permettant un haut niveau de clarté et de résolution. Le SEM permet jusqu'à 20 kV de tension d'accélération, permettant aux utilisateurs d'analyser avec précision une variété d'échantillons. HITACHI SU70 est capable d'acquérir des données pour l'analyse quantitative de l'échantillon, avec des options telles que l'analyse élémentaire. Les images haute résolution peuvent être acquises à l'aide de détecteurs EDX, permettant une analyse détaillée de divers éléments et composés. En outre, le SEM dispose d'un détecteur de rétrodiffusion automatisé, le rendant parfait pour l'examen de la topographie. L'instrument est conçu pour une utilisation facile, avec des menus faciles à naviguer et des logiciels intuitifs. L'utilisateur peut naviguer rapidement dans les menus pour sélectionner les paramètres d'image désirés et commencer rapidement l'imagerie. Le SEM dispose également de logiciels d'analyse avancés tels que les capacités Auto-Focus pour aider à identifier les fonctionnalités pertinentes et un puissant paquet d'analyse d'image qui permet aux utilisateurs de manipuler des images. En conclusion, SU 70 Scanning Electron Microscope est un instrument puissant et riche en fonctionnalités. Il offre une imagerie haute résolution, une couverture énergétique pour divers types d'échantillons, une large gamme de fonctionnalités automatisées et des logiciels intuitifs. Avec sa capacité d'image jusqu'au niveau atomique, le système est un outil précieux pour examiner et analyser une variété de matériaux.