Occasion HITACHI SU-70 #9227448 à vendre en France
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Vendu
ID: 9227448
Taille de la plaquette: 8"-12"
Style Vintage: 2008
Scanning Electron Microscope (SEM), 8"-12"
Process: Analysis
Holder chamber
Trackball
Control pad / BSE Detector / EVAC
STG Controller
TMP Pump
Ion power supply / Main PCB board
DC Power
Lens power supply / Main PC
LCD Monitor / Power-supply
HT Box (HV Additional unit type)
Anti-vibration table
Includes:
Main body
PC Display
Dry pump
Power supply
HT Power supply
Cover
Pump cover
OS: Windows
HITACHI Load port
HITACHI Loader arm
EDWARD ESOP12
HITACHI Chamber
HP Compaq
Does not include hard disk drive
Voltage: 208 V
2008 vintage.
HITACHI SU-70 est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) qui offre des performances et une qualité d'image exceptionnelles. Le système optique est composé de deux objectifs électrostatiques identiques qui permettent l'observation simultanée d'électrons secondaires et rétrodiffusés. Ces lentilles permettent une imagerie haute résolution tout en conservant une taille compacte. Le SEM a une chambre qui peut être manipulée pour accueillir une grande variété d'échantillons. Cela permet à l'utilisateur d'ajuster avec précision la mise au point et l'agrandissement. Le microscope dispose également d'un canon à émission de champ (FEG) qui permet à l'utilisateur d'ajuster l'énergie des électrons afin d'observer les caractéristiques de surface et d'analyser la composition des échantillons. Le pistolet est capable de fournir jusqu'à 3,000V tension d'accélération qui permet l'étude d'échantillons de matériaux non conducteurs avec une grande variété d'énergies électroniques. La FEG est également capable de fournir une imagerie SEM basse kV de matériaux non conducteurs avec une résolution de contraste allant jusqu'à 1nm ou 0.1nm. Le SEM dispose d'un système unique d'interface d'utilisation (U.I.) qui est conçu pour permettre un fonctionnement facile. L'utilisateur peut choisir la langue anglaise ou japonaise avec une interface graphique pour effectuer des ajustements aux paramètres du microscope. Pour un fonctionnement amélioré, le microscope est livré avec un logiciel dédié qui peut aider au réglage des paramètres et à l'acquisition d'image. Enfin, le microscope est équipé d'une gamme d'accessoires comprenant des porte-échantillons, des étages spécialisés et des filtres polarisés qui aident l'utilisateur à optimiser le processus d'imagerie. La combinaison des différentes fonctionnalités fournit à l'utilisateur un SEM précis et haute performance.
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