Occasion HITACHI SU-8010 #9412046 à vendre en France

ID: 9412046
Style Vintage: 2014
Scanning Electron Microscope (SEM) SE-BSE EBIC KLEINDIEK X2 Probes BRUKER EDX 6/60 2014 vintage.
HITACHI SU-8010 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour acquérir rapidement et avec précision des données morphologiques détaillées d'un large échantillon de matériaux à résolution sub-micron. La conception et la construction du microscope sont optimisées pour produire des images haute résolution et contrastées de matériaux allant de spécimens biologiques à des échantillons de poudre. La grande profondeur de champ permet l'imagerie précise des échantillons avec une variété de formes, tailles et orientations d'échantillons. HITACHI SU8010 est équipé d'une source de canon à émission de champ (FEG) qui fournit un courant de faisceau d'électrons stable et fiable. Cette source FEG est capable de produire un faisceau d'électrons avec une faible diffusion d'énergie et une grande luminosité. Le faisceau d'électrons est focalisé et balayé optiquement par un équipement optimisé de lentille Einzel afin d'améliorer la résolution et le contraste. Le microscope utilise également un système sophistiqué de caméra CCD avec des technologies de traitement d'images exclusives pour produire des images numériques de haute qualité avec une excellente résolution et un contraste élevé. Le SEM est conçu avec un porte-échantillon sophistiqué. Le support peut accueillir jusqu'à 3 échantillons à la fois et peut également être utilisé pour effectuer l'imagerie simultanée de plusieurs échantillons avec différents réglages de courant de faisceau et de tension d'accélération. Ceci permet à l'utilisateur d'améliorer le rapport signal sur bruit des images prises. Une image optique peut également être prise avec SU 8010. Pour ce faire, on utilise un scintillateur haute pression qui convertit les électrons secondaires émis par le vide en un signal vidéo qui est capté par la caméra CCD. Cela permet à l'utilisateur d'observer l'échantillon avant et après son balayage avec le faisceau d'électrons. La construction mécanique du SEM est optimisée pour la stabilité et la fiabilité. Les étages X-Y pilotés par piézo sont utilisés pour permettre une navigation précise des échantillons avec facilité. Le contrôle de précision en navigation est obtenu avec la théorie du contrôle en boucle ouverte, et le microscope est équipé d'un joystick à quatre axes qui permet un mouvement synchronisé en temps réel. SU8010 est un microscope électronique à balayage sophistiqué conçu pour offrir aux chercheurs et aux techniciens un outil fiable et précis pour étudier une variété d'échantillons. Les images à haute résolution et à fort contraste obtenues au microscope peuvent fournir un aperçu de la structure et de la morphologie d'un matériau. La machine à porte-échantillons avancée, la conception mécanique et l'outil de caméra CCD permettent à l'utilisateur de capturer des images précises rapidement et facilement.
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