Occasion HITACHI SU-9000 #9250542 à vendre en France

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ID: 9250542
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2011
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), 12" Immersion lens SE Resolution: 1.2 nm at 1 keV SE Resolution: 0.4 nm at 30 keV Hyper stage Combined operation: Joystick and trackball Full operation: Control panel Standard specimen holder EDS Ready (DBC And RS-232C interface) Anti-contamination unit Dry vacuum system Wide screen flat panel: 24.1" UL/SEMI Compliance Environmental enclosure Control unit for double tilt holder HASKRIS Air-cooled water recirculator AZTEC Energy standard micro-analysis system With X-MaxN 80 large area analytical upgraded Hardware includes: X-MaxN 80 SDD Detector with PentaFET precision Active area: 80 mm² Resolution guaranteed on Mn K - 127 eV at 50,000 cps SATW Windows for detection of elements from beryllium MicsF+ Microscope image capture system X-Stream 2 micro-analytical pulse processor PC Operating system: Windows 7 Widescreen LCD display, 23" BF/DF Duo-STEM detector: Includes specimen holder for BF / DF STEM image BF-STEM / Detection angle control DF-STEM BF APT Unit YAG BSE Detecting unit Top detecting device Video amplifier unit: 2 Channels for YAG / STEM Photomultiplier power supply unit: 2 Channels for YAG / STEM Cross section specimen holder: Specimen size (L x H x W): 12 mm x 2 mm x 6 mm Double tilt cross section holder: ±15° 2011 vintage.
HITACHI SU-9000 est un microscope électronique à balayage de nouvelle génération (SEM) qui offre une précision et une qualité d'imagerie inégalées pour une variété de disciplines scientifiques. Ce SEM haute performance offre une résolution ultra précise jusqu'à deux nanomètres, permettant aux utilisateurs d'examiner des structures très détaillées en détail, sans sacrifier la qualité d'image. La nouvelle conception de canon à électrons associée à la source d'émissions sur le terrain offre une stabilité accrue, améliorant la résolution et la cohérence de l'imagerie. Le mode dédié « microanalyse aux rayons X » permet aux chercheurs d'isoler et de caractériser divers éléments au sein d'un échantillon, offrant ainsi des informations uniques sur la composition chimique d'un échantillon. SU-9000 dispose également d'un étage automatisé avec une plage de mouvement allant jusqu'à 50 x 50 millimètres. Ce système dispose d'une précision de positionnement automatisée dans les 0,1 microns pour un positionnement précis des échantillons. En plus d'une plage d'angle d'inclinaison de ± 70 °, les chercheurs peuvent saisir plusieurs vues, fournissant un aperçu plus complet et plus détaillé de l'échantillon sans sacrifier la précision. Un chargeur de spécimens automatisé est également disponible pour rationaliser le processus d'échange et de capture des échantillons. De plus, HITACHI SU-9000 offre des modes d'observation innovants tels que la « mesure spectrale à point unique », permettant aux utilisateurs de déterminer rapidement et avec précision la composition élémentaire d'un échantillon sans avoir besoin d'un équipement supplémentaire. La commande du courant du faisceau d'électrons permet une précision encore plus grande et une analyse élémentaire fiable. Le puissant logiciel d'imagerie offre une gamme de fonctionnalités d'imagerie, y compris l'imagerie à double faisceau, l'imagerie stéréoscopique et les programmes d'analyse d'image. Ces fonctionnalités permettent une analyse, une visualisation et un reporting polyvalents en temps réel. Le logiciel a également la reconstruction de tomographie 3D, permettant l'imagerie en trois dimensions pour une visualisation supérieure des données, une analyse améliorée et l'acquisition d'images 3D haute résolution. Enfin, SU-9000 comprend HYPERVISO, un système unique d'alimentation au lithium-ion économe en énergie. Cette technologie avancée de refroidissement et de commutation réduit considérablement la consommation d'électricité tout en maintenant la précision. Cela est particulièrement bénéfique pour les établissements de recherche et les entreprises qui doivent rester conscients du budget. Toutes ces caractéristiques combinées font de HITACHI SU-9000 un outil inestimable dans l'étude et la caractérisation des nano matériaux et autres structures nanométriques. Avec une meilleure qualité d'imagerie, précision et polyvalence, SU-9000 est un outil essentiel pour tout laboratoire de recherche axé sur les nanomatériaux ou l'imagerie à l'échelle des sous-microns. Avec son faible coût par échantillon, son ensemble complet de fonctionnalités et ses technologies d'analyse avancées, HITACHI SU-9000 est le choix idéal pour une vie de recherche révolutionnaire.
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