Occasion HITACHI SU-9000 #9266073 à vendre en France

HITACHI SU-9000
ID: 9266073
Style Vintage: 2015
Scanning Electron Microscope (SEM) 2015 vintage.
HITACHI SU-9000 est un microscope électronique à balayage par émission de champ (FE-SEM) qui offre des performances supérieures pour l'imagerie et l'analyse. Doté d'une technologie de pointe, le microscope offre une variété de caractéristiques, telles qu'une grande chambre, une chambre haute performance et une source d'électrons plus brillante, qui le rendent particulièrement adapté à un large éventail d'exigences d'imagerie, d'analyse et de métrologie. Ce microscope haut de gamme possède une chambre à vide inférieure, une optique améliorée et un assemblage plus rapide de canons à électrons. Il est également équipé d'un équipement d'ultra-haute dépression qui fournit un environnement optimal pour l'imagerie. Par rapport aux autres SEM, la chambre du microscope est plus grande à 1 000 millimètres cubes, ce qui permet une distance de travail accrue entre l'échantillon et la source d'électrons. SU-9000 dispose également d'une source d'électrons améliorée, qui produit un faisceau plus lumineux que les SEM traditionnels grâce à ses lentilles d'extraction Cs intégrées. Le faisceau plus lumineux permet de réduire le temps d'imagerie et d'améliorer la résolution des images. En plus de son optique électronique, HITACHI SU-9000 possède également un détecteur d'électrons secondaire avec un champ de vision supérieur et un détecteur d'énergie haute performance, qui permettent de mesurer plus facilement la composition, l'épaisseur et les contours. Le détecteur d'énergie a également un niveau de précision élevé et peut détecter une large gamme de matériaux. Le microscope a diverses caractéristiques qui le rendent idéal pour les applications de métrologie. Il est livré avec une vitesse de balayage de 0,23 à 7,75 Hz et jusqu'à 600 μ m/sec. En outre, SU-9000 dispose d'un système intégré de vélocimétrie d'image des particules (VEM), qui est utilisé pour mesurer les propriétés des matériaux. HITACHI SU-9000 a une conception unique pour l'interface utilisateur, qui comprend un montage d'échantillons et une unité de contrôle environnemental. Le support d'échantillons permet des opérations faciles, et il peut être utilisé pour des mesures et des inspections. La machine de contrôle de l'environnement est conviviale et aide à maintenir l'environnement à vide à l'intérieur de la chambre. Le microscope est soutenu par une gamme complète d'accessoires, tels qu'un outil de chauffage et de refroidissement, qui est utilisé pour maintenir la température de l'échantillon pendant l'imagerie. Il dispose également d'un actif de filtration, qui est conçu pour réduire le nombre de particules dans la chambre, et d'un modèle d'acquisition de données, qui peut stocker et transférer des données au stockage du réseau. Dans l'ensemble, SU-9000 est un FE-SEM d'émission de terrain haut de gamme qui fournit des capacités d'imagerie et d'analyse supérieures. Il possède une chambre avancée, une source d'électrons améliorée et des caractéristiques de métrologie de pointe, qui en font un excellent choix pour une variété d'applications industrielles et de recherche.
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