Occasion HITACHI TM-1000 #9205307 à vendre en France

HITACHI TM-1000
ID: 9205307
Style Vintage: 2006
Tabletop Scanning Electron Microscope (SEM) Motorized X, Y stage No EDS 2006 vintage.
Le microscope électronique à balayage HITACHI TM-1000 est un instrument d'imagerie haute résolution qui fournit des visualisations détaillées et tridimensionnelles d'objets ou de caractéristiques microscopiques. HITACHI TM 1000 peut être utilisé dans deux modes d'imagerie distincts : l'imagerie électronique secondaire (SEI) et la cathodoluminescence (CL). En mode SEI, TM-1000 utilise un faisceau focalisé d'électrons qui interagit avec l'échantillon, ce qui entraîne l'émission de trois types d'électrons secondaires - rétrodiffusion, diffusion vers l'avant et électrons Auger. Les électrons sont recueillis à l'aide d'un détecteur puis traités pour créer une image en noir et blanc de l'échantillon. En ajustant l'énergie du faisceau et les paramètres de détection, le mode SEI permet l'imagerie d'objets avec une résolution de masse d'environ 1 nanomètre. En mode CL, TM 1000 utilise un détecteur de lumière spécialisé pour capturer le spectre de lumière émis par l'échantillon lorsque le faisceau d'électrons interagit avec lui. Cette émission peut être modifiée en contrôlant certaines conditions, telles que la quantité d'énergie fournie au faisceau d'électrons. Le mode CL est utilisé pour représenter des échantillons contenant principalement des matériaux luminescents, tels que certains minéraux ou certains matériaux semi-conducteurs, et peut être utilisé avec une résolution de masse allant jusqu'à 0,5 nanomètres. En plus de la grandeur et de l'analyse de composition, la MARQUE DE FABRIQUE DE HITACHI 1000 peut aussi être utilisée pour analyser les surfaces de l'échantillon pour obtenir des renseignements sur les caractéristiques électriques, telles que les facteurs de dissipation et les courants de fuite ou les variables chimiques, telles que la réactivité chimique. Enfin, HITACHI TM 1000 dispose d'un étage d'échantillonnage automatisé, permettant un étalonnage et un fonctionnement faciles. Cette étape est capable d'une gamme de mouvements, y compris des traductions orientées, rotatives et horizontales. Cela facilite l'imagerie ciblée des caractéristiques et améliore considérablement les vitesses de collecte des données par rapport au fonctionnement manuel.
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