Occasion HITACHI TM-3030 Plus #9229603 à vendre en France

HITACHI TM-3030 Plus Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant outil d'imagerie conçu pour offrir des capacités d'imagerie haute résolution et des mesures précises à l'échelle nanométrique. Il est capable de créer des images 3D détaillées et a été spécialement conçu pour la caractérisation des matériaux, l'analyse des échecs et des applications de recherche. TM-3030 Plus est équipé de quatre sources d'électrons : une source FEG d'émission de champ Schottky (SFE), une source FEG de tungstène (W), une source d'émission de champ thermique (TFE) et une source d'hexaborure de lanthane (LaB6) en colonne. Le système a également un système de double détecteur, qui fournit le fonctionnement simultané d'un détecteur d'InLens et d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) pour permettre une variété de modes d'imagerie haute résolution. HITACHI TM-3030 Plus dispose également d'une interface graphique conviviale qui simplifie le fonctionnement du système. Le SEM dispose également d'un design très robuste qui est conçu pour résister à des conditions de vide élevé pendant une longue période, ce qui le rend idéal pour la caractérisation prolongée et l'imagerie des nanostructures et des particules sub-microns. Le SEM est également très fiable et produit des courants d'émission de champ faibles, lui permettant de fournir des images de haute résolution moléculaire et atomique. De plus, TM-3030 Plus utilise le filtrage angulaire pour réduire l'influence des particules contaminantes sur l'échantillon analysé, ce qui donne une image plus détaillée. Il est également capable de fonctionner dans une large gamme de réglages de pression et de vitesses de fonctionnement, ce qui le rend adapté à diverses applications d'imagerie cryo. De plus, HITACHI TM-3030 Plus est équipé d'une approche par faisceau doux pour minimiser les dommages de l'échantillon lors de l'imagerie, permettant l'imagerie de spécimens fragiles. Le SEM fonctionne également à pleine gamme de tensions d'accélération, offrant des capacités d'imagerie haute résolution. Dans l'ensemble, TM-3030 Plus est un puissant microscope électronique à balayage tout-en-un pour la caractérisation des matériaux, l'analyse des défaillances et les applications de recherche. Le SEM offre des capacités d'imagerie haute résolution, une conception robuste, des courants d'émission faibles, et est équipé de sources d'électrons multiples et de détecteurs pour différents modes d'imagerie. En outre, il est également capable de cryo applications d'imagerie et dispose d'approche de faisceau doux pour minimiser les dommages de l'échantillon pendant l'imagerie.