Occasion HITACHI TM-3030 #9067359 à vendre en France

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ID: 9067359
Scanning electron microscope, (SEM) Tabletop microscope (5) Image modes: Topography, composite, shadow-1, shadow-2, charge suppression mode (3) Acceleration voltage modes: 3-stage 5kV, 15kV, 15kV high contrast (high current) Detector: Four Quadrant, High sensitivity semiconductor BSE detector Electron Source: Pre-centered cartridge filament Sample size: 70mm (W) x 50mm (H) X/Y traverse: 35x35mm Auto Image Focus: Auto start, focus and brightness Data Save Format: jpeg, tiff, BMP Data display: includes micron marker, micron value, date and time, image number comments Measurement Software: Point-to-point measurement, text, area markings Resolution: 30nm Available Upgrades: X-Ray Chemical Analysis with data cube, expanded X/Y traverse electronic stage with color camera navigation, sample tilt and rotation accessories.
HITACHI TM-3030 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit une imagerie haute résolution avec une grande profondeur de champ pour une gamme d'applications allant des semi-conducteurs aux échantillons biologiques. TM-3030 offre un échange rapide d'échantillons avec un porte-spécimen à 3 voies et un détecteur SE stabilisé thermiquement à zéro pour une imagerie stable. Une source FEG (Field Emission Gun) permet une imagerie rapide et contrastée grâce à une variété de tensions de puissance et d'accélération. Un système d'auto-alignement de la source et du détecteur facilite l'installation et la maintenance. HITACHI TM-3030 intègre un détecteur à grande surface pour l'imagerie à grande surface (WAI). WAI fournit des aperçus de grande superficie à de faibles grossissements pour réduire les temps d'observation sans compromettre la résolution. Un étage motorisé avec une course X-Y de 145 mm x 100 mm permet un balayage à haut débit pour de grands échantillons ou plusieurs points d'intérêt. Avec le canal de cartographie de couleurs optionnel, TM-3030 est capable de produire des images de couleurs 3D basées sur plusieurs composantes du signal. Cela permet une meilleure visualisation des structures complexes et plus de détails. HITACHI TM-3030 dispose également d'un système intégré d'analyse des particules qui peut être utilisé pour identifier et dimensionner les particules d'un échantillon. Le logiciel peut recueillir des données sur jusqu'à 1000 particules et fournit des statistiques sur le diamètre, la surface, le nombre et la rugosité de surface des particules. TM-3030 est contrôlé par un logiciel convivial et intuitif qui fournit des capacités complètes de traitement d'image. Cela comprend des outils pour améliorer le contraste et la luminosité, des ajustements de netteté, des relevés d'histogrammes, des mesures de la région d'intérêt et des chevauchements d'images. HITACHI TM-3030 est un excellent outil pour un large éventail d'applications telles que l'analyse des défaillances des circuits intégrés, la caractérisation des échantillons en science des matériaux et l'imagerie biologique des échantillons. Ce SEM puissant et fiable offre une excellente résolution d'imagerie, un échange rapide d'échantillons et un contrôle logiciel facile à utiliser.
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