Occasion HITACHI WA 1300 #9243647 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage HITACHI WA 1300 (SEM) est un outil de haute performance pour l'imagerie, l'évaluation et l'analyse d'échantillons au niveau du nanomètre. Il s'agit d'un SEM d'émission de terrain avec un équipement de contrôle de pression variable, ce qui le rend adapté à une gamme d'applications telles que la caractérisation et l'analyse de la surface des échantillons, l'analyse de la composition élémentaire et les mesures de 3D-morphological. Le système est équipé d'un canon à électrons, de lentilles de condenseur, de lentilles d'imagerie et d'une chambre d'échantillonnage. Le canon à électrons produit un faisceau d'électrons à focalisation étroite qui est ensuite transporté à travers les lentilles du condenseur vers la chambre d'échantillonnage, tandis que les lentilles d'imagerie capturent et grossissent l'image de l'échantillon. La chambre d'échantillonnage fournit elle-même le contrôle de pression variable, permettant à l'utilisateur d'ajuster la pression pour obtenir les résultats optimaux d'imagerie ou d'analyse. L'unité d'imagerie est très polyvalente, avec des fonctionnalités telles que l'imagerie haute résolution, l'imagerie de terrain haute profondeur, et une machine d'analyse automatisée. L'imagerie haute résolution permet à l'utilisateur de faire des observations détaillées jusqu'au niveau du sous-nanomètre, tandis que l'imagerie haute profondeur de champ permet d'observer simultanément des caractéristiques jusqu'au niveau 3D. L'outil d'analyse automatisé peut être utilisé pour identifier rapidement de nombreuses propriétés de l'échantillon, telles que sa rugosité de surface, la taille réelle des grains, la composition élémentaire et les caractéristiques microstructurales. HITACHI WA-1300 est capable de fonctionner dans une gamme de modes d'imagerie et d'analyse, y compris l'imagerie électronique secondaire (SEI) et l'imagerie électronique rétrodiffusée (BSEI). Le SEI peut être utilisé pour observer les caractéristiques de surface d'un échantillon, tandis que le BSEI fournit une vue plus profonde des structures et des éléments à l'intérieur de l'échantillon. Ces deux modes d'imagerie sont très polyvalents et peuvent être combinés avec d'autres fonctions d'analyse en un seul processus automatisé. En outre, l'actif offre une gamme de fonctions d'analyse telles que la cartographie des rayons X EDS, l'analyse de la taille des particules et la microscopie spectrale. La cartographie par rayons X EDS peut aider l'utilisateur à identifier la composition élémentaire d'un échantillon au point d'analyse, tandis que l'analyse granulométrique peut être utilisée pour la caractérisation des particules fines. La microscopie spectrale combinée au modèle d'analyse automatisé peut fournir des informations détaillées sur la composition chimique d'un échantillon et peut être utilisée pour identifier et quantifier avec précision les oligo-éléments. L'équipement WA 1300 est conçu pour l'analyse et l'imagerie rapides et précises des échantillons, fournissant à l'utilisateur un outil puissant pour étudier et comprendre divers échantillons au niveau du nanomètre. Sa combinaison de SEM d'émission sur le terrain et de système de contrôle de pression variable permet l'observation et l'analyse détaillées, tandis que les nombreuses fonctions d'imagerie et d'analyse offrent une gamme d'options pour les chercheurs dans des domaines tels que la science des matériaux, les semi-conducteurs, et plus encore.