Occasion HITACHI WA 3300 #9240766 à vendre en France

HITACHI WA 3300 Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant outil d'imagerie et d'analyse de matériaux et de surfaces à fort grossissement et à haute résolution spatiale. Ce SEM dispose d'un fonctionnement facile avec une interface utilisateur intuitive, ainsi que d'une variété de fonctionnalités de haute performance qui le rendent adapté à un large éventail d'applications. HITACHI WA3300 est équipé d'une source d'électrons en tungstène haute performance qui est capable de produire une émission d'électrons robuste avec une excellente luminosité et stabilité. Cela garantit des images de la plus haute qualité à chaque fois. WA-3300 est équipé d'un système de grossissement élevé, permettant aux opérateurs d'afficher des caractéristiques jusqu'à 5nm de taille. Sa technologie d'imagerie avancée et son électronique de pointe peuvent également être utilisées pour améliorer les images, révéler des caractéristiques de surface délicates et fournir la capacité de mesurer et d'analyser avec précision l'échantillon à une échelle nanométrique. WA 3300 dispose également d'un puissant système de filtrage et d'amélioration du contraste qui permet une meilleure visualisation du contraste que nous trouvons dans les grossissements élevés. Les composants optiques en HITACHI WA-3300 SEM ont un haut niveau de stabilité et sont conçus pour rester en bon alignement dans le temps. Les étages de scan ont également un haut niveau de précision et disposent d'une précision de positionnement intégrée de 0,2 mm ou mieux. Cela permet un balayage précis et un contrôle de la focalisation, même avec des grossissements élevés. WA3300 contient également un large éventail de détecteurs. Il s'agit notamment du détecteur d'ESB, du détecteur de SE et du détecteur d'électrons rétrodiffusés. De plus, le HITACHI WA 3300 peut être équipé d'une large gamme d'éléments optiques, y compris une lumière co-axiale, une lentille arrière et une lentille de champ sombre. Ces composants peuvent être utilisés pour effectuer des investigations sur les caractéristiques de surface et la composition. En plus de fournir une qualité d'image supérieure, HITACHI WA3300 contient également un certain nombre de caractéristiques de sécurité. Il s'agit notamment d'une capacité d'arrêt à distance et d'une protection contre les niveaux excessifs de rayonnement électronique. WA-3300 dispose également d'un support de caméra réglable et de son propre ordinateur, permettant la télécommande et l'enregistrement des données des activités du SEM. WA 3300 est un microscope électronique à balayage avancé qui fournit des fonctions d'imagerie et d'analyse puissantes, un niveau élevé de précision et de stabilité, et une large gamme de détecteurs et de composants optiques pour améliorer les performances. Cette flexibilité et cette fiabilité permettent à HITACHI WA-3300 de répondre aux besoins d'un large éventail d'applications industrielles et de laboratoire.