Occasion HITACHI WB-3100 #9256081 à vendre en France

HITACHI WB-3100 est un type de microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise une colonne électronique pour créer une image d'un échantillon. Sa colonne est équipée de plusieurs détecteurs, tels qu'un détecteur d'électrons secondaire, un détecteur d'électrons rétrodiffusés et un détecteur de rayons X dispersif d'énergie. Ce SEM dispose d'une tension de fonctionnement de 0,2 à 30kV, et d'un canon à électrons en forme de bobine avec un diaphragme de polarisation. Il utilise une paire de lentilles magnétiques pour focaliser le faisceau d'électrons sur l'échantillon. Un détecteur de niveau automatique est également mis en oeuvre, permettant un positionnement précis de la focalisation. L'instrument a un large champ d'observation allant jusqu'à 124mm x 86mm. Il offre également une grande variété de grossissements, allant de 20x à environ 1600x. Avec l'aide du pistolet d'émission de champ, il permet une imagerie plus rapide avec un courant de faisceau stable. Il est livré avec un appareil photo numérique innovant, qui est équipé d'un maximum de dix mégapixels caméras. Cela aide à capturer des images avec une meilleure résolution et précision de couleur. Le système de caméra dispose également d'une fonction de mémoire d'image pour stocker des images dans la mémoire interne. Le microscope dispose d'une unité de contrôle haute vitesse et haute précision, permettant un balayage en douceur avec des tailles de pas optimisées et des angles de faisceau d'électrons. Une machine d'alignement automatique est également mise en œuvre qui peut ajuster précisément l'angle d'inclinaison entre 45 et 60 degrés. WB-3100 est entièrement convivial, avec des écrans de fonctionnement interactifs et complets. Il offre également une large gamme de fonctionnalités, telles qu'un cycle automatique d'auto-étalonnage et d'entretien, un mode d'inspection des défauts, une fonction d'inclinaison des spécimens, et une variété de modes de fonctionnement préprogrammés. L'instrument est également équipé d'un EDS (Energy Dispersive X-Ray Spectrometer) pour l'analyse élémentaire. Il comporte un détecteur de bruit faible, permettant à l'instrument de détecter des traces d'éléments. Enfin, le microscope est également muni d'une table d'isolement des vibrations, ce qui réduit drastiquement l'absorption des vibrations par l'instrument, assurant ainsi une imagerie lisse.