Occasion HITACHI ZA 3300 #293739026 à vendre en France

ID: 293739026
Style Vintage: 2014
Atomic Force Microscope (AFM) 2014 vintage.
HITACHI ZA 3300 est un microscope électronique à balayage de pointe (SEM) qui offre des capacités d'imagerie haute performance pour un large éventail d'applications dans le domaine de la science des matériaux, de la biologie, de la nanotechnologie et de la recherche sur les semi-conducteurs. Cet instrument de pointe est conçu pour fournir des images ultra haute résolution avec une clarté et une précision exceptionnelles, ce qui en fait un outil indispensable pour les chercheurs et les scientifiques cherchant à explorer le monde microscopique avec précision et précision. Au cœur du ZA 3300 se trouve un système optique électronique à haute résolution qui offre des performances d'imagerie supérieures dans diverses conditions de fonctionnement. Le microscope est équipé d'un canon à électrons à émission de champ qui produit un faisceau d'électrons fortement focalisé avec une petite taille de sonde, permettant à l'utilisateur de capturer des images à haute résolution à une plage de grossissement allant jusqu'à 1.000.000x. Ce niveau de grossissement permet de visualiser les nanostructures et les caractéristiques submicroniques avec une clarté et une précision exceptionnelles. HITACHI ZA 3300 dispose d'une variété de modes d'imagerie, y compris l'imagerie électronique secondaire (SEI), l'imagerie électronique rétrodiffusée (BEI) et la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS). Le mode SEI est idéal pour l'imagerie de surface et l'analyse topographique, fournissant des images haute résolution des caractéristiques et textures de surface. Le mode BEI, en revanche, offre des informations précieuses sur la composition et le numéro atomique de l'échantillon, ce qui le rend apte à la cartographie élémentaire et à l'analyse de la composition. Le système EDS permet l'analyse qualitative et quantitative de la composition chimique de l'échantillon, fournissant des informations précieuses sur la distribution élémentaire et la concentration au sein de l'échantillon. En plus de ses capacités d'imagerie, ZA 3300 est équipé d'outils d'analyse avancés qui permettent aux chercheurs d'effectuer un large éventail d'expériences et d'analyses. Le microscope est doté d'un système novateur de lithographie par faisceau d'électrons qui permet de réaliser et de fabriquer à l'échelle nanométrique, ce qui en fait un outil idéal pour la recherche en nanotechnologie et en génie des semi-conducteurs. L'instrument comprend également des logiciels avancés pour l'acquisition, l'analyse et le traitement d'images, permettant aux utilisateurs d'extraire facilement des informations précieuses de leurs images et données. HITACHI ZA 3300 est conçu avec des fonctionnalités conviviales qui améliorent l'expérience utilisateur globale et facilitent le fonctionnement efficace et la collecte de données. Le microscope est équipé d'une interface utilisateur intuitive qui permet un contrôle et une manipulation faciles des paramètres d'imagerie, permettant aux chercheurs de personnaliser leurs paramètres d'imagerie et d'optimiser la qualité d'image. L'instrument comprend également des fonctions automatisées pour la navigation des échantillons, la focalisation et l'imagerie, la rationalisation du processus d'imagerie et l'amélioration de l'efficacité du flux de travail. En conclusion, ZA 3300 est un microscope électronique à balayage de pointe qui offre des performances d'imagerie exceptionnelles, des capacités analytiques avancées et des fonctionnalités conviviales pour un large éventail d'applications en science des matériaux, en biologie, en nanotechnologie et en recherche sur les semi-conducteurs. Avec ses capacités d'imagerie haute résolution, ses outils d'analyse avancés et son interface utilisateur intuitive, HITACHI ZA 3300 est un atout précieux pour les chercheurs et les scientifiques qui cherchent à explorer le monde microscopique avec des détails et une précision sans précédent.
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