Occasion HYPERVISION V 2000 #149304 à vendre en France

ID: 149304
Backside emission analysis microscopy system Configuration: Probe system: SUSS MicroTec probe station and probe arm Chuck: 8" Automatic control plant TMC anti-vibration pad Microscope system: Objective lens: 5x, 20x, 50x CCD system PC system Power supply system Equipment performance requirement: Wavelength: 605 to 1060nm Installation requirements: Power: 220V ± 10%, 2A, 330W, 50/60Hz GN2: 80 to 100psi Vacuum: 0.8bar.
HYPERVISION V 2000 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui a été développé pour fournir une imagerie haute résolution des échantillons topographiques et conducteurs. Le microscope est équipé d'un système de colonne inversée de haute qualité, qui comprend un étage de pompage différentiel capable de maintenir des conditions de vide élevé sur une large gamme de types d'échantillons. V 2000 dispose également d'une source d'imagerie numérique avec un canon à électrons dédié et des caméras numériques, fournissant des capacités d'imagerie allant jusqu'à 200,000X. Le microscope est utilisé avec un panneau de contrôle tactile convivial et est conçu pour faciliter l'utilisation pour l'analyse de routine et avancée des matériaux. HYPERVISION V 2000 a plusieurs modes d'imagerie, y compris le champ lumineux et sombre, l'imagerie électronique secondaire et rétrodiffusée. Il est également équipé de capacités avancées d'analyse automatisée et de traitement d'image, y compris l'analyse histogramme, l'analyse 3D de surface et l'analyse automatisée de la taille et de la forme des particules. V 2000 est conçu pour fonctionner dans des conditions de cryo et est équipé d'un large éventail d'options de manipulateur, y compris manipulateur à 6 axes, analyse EDS avec analyse de données avancée et contrôle total de la taille des paliers, et imagerie sélective énergétique haute résolution, permettant aux chercheurs d'effectuer des études élémentaires et topographiques très détaillées. HYPERVISION V 2000 offre de nombreuses fonctionnalités supplémentaires afin d'optimiser l'analyse des échantillons, comme un déflecteur de faisceau intelligent qui permet une cartographie automatisée des échantillons, des mouvements automatisés des étages qui permettent une imagerie plus rapide et une efficacité améliorée, et une source basse kV qui offre la possibilité de cartographier les niveaux de chambre et de fond ultra-bas. Dans l'ensemble, V 2000 est un microscope électronique à balayage hautement capable qui fournit des capacités d'imagerie puissantes et de haute résolution, des performances robustes et fiables dans des conditions cryogéniques variées, et réduira l'analyse manuelle intensive en main-d'oeuvre. Il s'agit d'un excellent outil pour les chercheurs en sciences des matériaux et il s'avérera sans aucun doute un outil précieux pour faire avancer la recherche et l'analyse.
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