Occasion ISI / AKASHI ABT-WB-6 #9267139 à vendre en France

ID: 9267139
Scanning Electron Microscope (SEM).
ISI/AKASHI ABT-WB-6 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie précise d'échantillons fins. ISI ABT-WB-6 utilise des optiques électroniques avancées et des systèmes sophistiqués de traitement d'images afin de fournir des images à haute résolution. Ce microscope est adapté à un large éventail d'applications, telles que la métrologie des semi-conducteurs, la science des matériaux et l'imagerie biologique et médicale. AKASHI ABT-WB-6 est équipé d'un canon à électrons S/225K, capable de générer des faisceaux d'électrons de haute énergie pour l'analyse d'éléments légers et lourds. L'optique électronique à haute résolution permet l'imagerie d'échantillons à résolution sub-micron. De plus, l'équipement intégré de profondeur de champ élimine le besoin de lentilles supplémentaires, ce qui signifie qu'il est plus simple d'utiliser des images détaillées à différentes profondeurs. Pour améliorer encore la capacité d'imagerie, des fonctions de traitement d'image telles que le contrôle de gain automatique, l'agrandissement numérique et le réglage de contraste automatique peuvent être utilisées pour ajuster le niveau de détail. ABT-WB-6 dispose d'un étage d'échantillonnage dédié 4 axes, permettant le balayage par ordinateur d'échantillons de tailles et de matériaux différents. L'étape peut également être couplée avec une variété d'accessoires, des porte-échantillons de grande surface aux sondes d'échantillonnage. Cela le rend adapté à l'analyse des surfaces planes et des tranchées courbes. ISI/AKASHI ABT-WB-6 est conçu pour être un système de microscopie respectueux de l'environnement. L'unité est équipée d'une machine d'assurance de la sécurité sous vide qui permet de conserver l'énergie et de protéger l'environnement en réduisant les risques de surcharges et d'accidents potentiels. Grâce à sa combinaison de fonctions, ISI ABT-WB-6 est un excellent SEM pour une variété de besoins de recherche. L'imagerie haute résolution, les spectres de faisceau à faible bruit et le fonctionnement simple offrent la plate-forme parfaite pour l'examen de matériaux avancés et de microstructure pour une large gamme d'applications générales.
Il n'y a pas encore de critiques