Occasion ISI / AKASHI DS 130C #9080012 à vendre en France

ISI/AKASHI DS 130C Scanning Electron Microscope (SEM) est un équipement avancé d'imagerie et d'analyse. Le microscope utilise l'optique électronique à balayage moderne et la technologie d'imagerie pour fournir aux utilisateurs l'imagerie haute résolution et l'analyse des nanostructures individuelles et des caractéristiques à l'échelle du nanomètre. Le système a une tension d'accélération réglable dans une gamme de 0,1 à 30 kV, ce qui le rend adapté à une large gamme de recherche et d'applications industrielles. Le SEM est livré avec une colonne Eucentrique haute résolution offrant une excellente stabilité géométrique et une capacité d'imagerie haute résolution. Les images SEM haute résolution sont produites à l'aide d'une combinaison de techniques d'imagerie numérique et d'algorithmes de traitement d'image, ce qui permet d'optimiser les images avec un contraste et une résolution extrêmement élevés. Le SEM utilise la technologie des pistolets à grand angle et des sources d'émission sur le terrain pour fournir une image lumineuse et uniforme même aux faibles tensions d'accélération. Une grande variété de configurations de détecteurs, telles que l'imagerie électronique secondaire (SE), l'imagerie électronique SE et rétrodiffusée (ESB) dans les lentilles, et l'analyse par spectrométrie X dispersive d'énergie (EDS) sont présentées. Les détecteurs d'imagerie SE et ESB sont équipés d'une source de canon à ions Ar pour le nettoyage post-lavage. Pour optimiser la manipulation des échantillons dans le SEM, l'étage peut être déplacé dans une large gamme d'angles et de coordonnées XY par une unité d'entraînement motorisée automatisée. Des adaptateurs de différentes tailles peuvent être utilisés pour fixer des porte-échantillons, et une zone de chargement d'échantillons est incluse à l'avant de la machine. La fonctionnalité Autofocus est également disponible pour maintenir une qualité d'image optimale en cas de changement dans l'environnement de l'échantillon. En plus de ses capacités d'imagerie et de manipulation d'échantillons, ISI DS 130C SEM offre une gamme de capacités analytiques qui fournissent aux utilisateurs des informations compositionnelles et structurelles approfondies. Il s'agit notamment de l'EDS avancée avec des capacités de cartographie des rayons X, de l'imagerie chimique, de l'analyse de phase et des mesures de cathodoluminescence. Les accessoires et logiciels compatibles vont d'un module de balayage à vide réduit à un contrôle automatisé de l'étage, en passant par divers porte-échantillons et détecteurs d'électrons. Un large éventail de logiciels d'analyse est également disponible, offrant une analyse d'image puissante, une analyse statistique et des outils de reconstruction 3D. AKASHI DS 130C SEM est une plate-forme idéale pour l'imagerie et l'analyse des nanostructures et des caractéristiques à l'échelle du nanomètre en raison de sa tension accélératrice réglable, de ses capacités d'imagerie haute résolution et d'une large gamme d'accessoires et de logiciels d'analyse. Sa conception haute performance et automatisée en font le choix idéal pour un large éventail d'applications industrielles et de recherche.