Occasion ISI DS 130B #9308918 à vendre en France

ISI DS 130B
ID: 9308918
Scanning Electron Microscope (SEM).
ISI DS 130B, fabriqué par ISI Atomscan Instruments, est un microscope électronique à balayage (SEM). C'est un type de microscope électronique qui utilise un faisceau focalisé d'électrons pour balayer une surface d'échantillon et construire un signal électronique secondaire qui est utilisé pour créer une image haute résolution de l'échantillon. DS 130B est équipé d'un étage X-Y motorisé à 3 axes qui permet un positionnement précis des échantillons. Il a un courant de faisceau d'électrons réglable allant jusqu'à 20mA, 200V - 2kV tension d'accélération, et une sortie de signal électronique secondaire élevée. Divers modes de fonctionnement sont disponibles, tels que SE, ESB ou ESEM (Environmental Scanning Electron Microscopy). Grâce à son contraste électronique, ISI DS 130B fournit une image topographique de surface très détaillée avec une résolution allant jusqu'à 2nm. Les images obtenues avec son détecteur SE possèdent une résolution améliorée, qui est encore améliorée avec son mode de détection ESB. DS 130B est équipé d'un Piezo Lift Prober avec une hauteur de portance contrôlée et une zone de balayage, permettant des mesures fiables et précises. Le Piezo Lift Prober est conçu pour minimiser les interférences avec l'échantillon tout en conservant la plus grande précision pendant le fonctionnement. Des caractéristiques telles que l'auto-focus, l'alignement automatique et la couture d'image font également de ISI DS 130B un excellent choix pour l'imagerie topographique comme l'analyse de plaquettes. Supplémentairement, le détenteur d'échantillon AppHeater™ augmente l'intégrité de promotion et minimise la contamination de particule pendant la préparation de promotion. DS 130B est un microscope électronique à balayage fiable et facile à utiliser conçu pour l'imagerie haute résolution des échantillons. Il a une précision extrême pour des mesures précises, et ses modes de fonctionnement garantissent un signal électronique secondaire de haute qualité même pour des échantillons complexes.
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