Occasion ISI SS40 #114649 à vendre en France

ISI SS40 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument polyvalent utilisé pour une large gamme d'applications d'imagerie haute résolution et d'analyse élémentaire. Sa caractéristique la plus notable est sa capacité à produire des images avec des résolutions allant jusqu'à 0,5 nm, ce qui en fait le choix haut de gamme pour l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique. Au cœur du SEM se trouve une source d'électrons - un filament ou une cathode d'émission de champ. Cette source émet un flux d'électrons qui sont balayés à travers l'échantillon fixé dans la chambre de prélèvement. Comme ces électrons interagissent avec l'échantillon, un signal électronique secondaire est émis et détecté par le détecteur SEM. Ces signaux sont amplifiés et affichés sur le moniteur du SEM pour visualiser l'échantillon. Le SEM dispose également d'une gamme de détecteurs qui permettent à l'utilisateur de mieux comprendre les caractéristiques de l'échantillon. Il s'agit notamment d'un détecteur électronique secondaire et d'un détecteur de spectroscopie à rayons X dispersif en énergie, qui peuvent tous deux fournir des informations élémentaires sur l'échantillon. L'ISIS SS40 offre également un choix de colonnes optiques d'électrons - d'une colonne standard à une colonne moyenne haute tension (MV) plus avancée - permettant des grossissements variables ainsi qu'une résolution améliorée. Le SEM est également équipé du logiciel de capture d'images (ICS) qui permet la capture d'images haute résolution, de vidéos et de mesures quantitatives de l'échantillon. Il dispose d'un outil d'amélioration d'image en temps réel, permettant une manipulation facile des images pour une visualisation claire des structures. La conception compacte et ergonomique de ISI SS40 permet un transport et une installation faciles dans les laboratoires de recherche. L'instrument dispose d'un étage réglable en hauteur, d'une gamme de réglages de grossissement et d'une gamme de lentilles interchangeables, le rendant facilement personnalisable pour différents types d'échantillons et d'expériences. Pour ceux qui recherchent un SEM haut de gamme avec la polyvalence, la fiabilité et les capacités d'imagerie lourdes, SS40 Scanning Electron Microscope est un choix idéal. Grâce à ses capacités d'imagerie haute résolution et d'analyse élémentaire, il permet aux utilisateurs de mieux comprendre les spécimens qu'ils y mettent.