Occasion ISI SS40 #293799644 à vendre en France

Le JEOL JSM-7001F ISI SS40 est un microscope électronique à balayage à haute performance à émission de champ (FE-SEM). Il est capable d'imagerie haute résolution (1,5nm) sur de grands champs de vue. Le SEM a un filtre à énergie dans la colonne et un spectromètre intégré de perte d'énergie d'électrons (EELS) pour l'analyse de la composition chimique, et un détecteur intégré de scintillation pour l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB). SS40 utilise un canon FE avancé pour l'imagerie à haute résolution et contraste. Il est basé sur un équipement d'extraction fermé et des bobines de focalisation permanentes pour maintenir la stabilité du canon. La chambre et les échantillons sont maintenus sous vide, ce qui permet à ce microscope de travailler sous ultra-vide (UHV) si nécessaire. Pour la manipulation d'échantillons, ISI SS40 dispose d'un étage d'échantillons avec propulseurs xyz, fournissant une gamme complète de mouvement. Pour l'imagerie, SS40 a un filtre d'énergie dans la colonne et EELS intégré. Ensemble, ils peuvent effectuer des analyses de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) et de spectroscopie dispersive de longueur d'onde (WDS). Le filtre en colonne fournit une image de contraste élevé de l'échantillon en mode lumière et en mode champ sombre. Le détecteur EELS est monté à la base de la colonne et est capable d'acquérir des spectres ainsi que de créer des cartes 2D de l'échantillon. ISI SS40 comprend également un détecteur d'électrons rétrodiffusé pour créer des images de l'ESB. Ce détecteur est monté dans la chambre inférieure et est capable de détecter des électrons diffusés à partir d'un échantillon avec un haut degré d'efficacité. Avec ce détecteur, les utilisateurs peuvent créer des images de contraste élevé de l'échantillon. Enfin, SS40 dispose d'un système de contrôle de vide automatisé pour maintenir une pression de fonctionnement optimale. Cette unité assure la surveillance en temps réel de la pression de la chambre et utilise une machine de maintenance informatisée pour indiquer les besoins d'entretien et de nettoyage en temps opportun. Dans l'ensemble, ISI SS40 est un microscope électronique à balayage d'émissions de champ puissant et polyvalent. Il est capable d'imagerie haute résolution et d'analyse de l'EELS, du SMD et de l'ESB pour fournir une compréhension complète des nanomatériaux complexes.