Occasion ISI SS40 #36254 à vendre en France

ISI SS40 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument d'analyse conçu pour l'imagerie haute résolution dans les domaines de la science des matériaux, des sciences de la vie, et plus encore. Il est capable d'imiter une grande variété d'échantillons, de l'échelle macroscopique à l'échelle nanoscopique, et de mesurer les caractéristiques jusqu'au niveau atomique. Le SEM utilise des faisceaux d'électrons non utilisés émis par une source de filament de tungstène qui diffusent hors de la surface de l'échantillon et sur le détecteur. L'imagerie se fait dans un environnement sous vide, ce qui permet aux électrons de parcourir l'échantillon sans être perturbés. En observant les interactions entre le faisceau et l'échantillon, on obtient des images avec des détails de niveau moléculaire. SS40 SEM est équipé d'une lentille électronique corrigée de l'aberration, permettant l'imagerie directe de caractéristiques fines dans la gamme sub-50 nm. Il dispose également d'un détecteur Pixcel avancé pour une sensibilité exceptionnelle et un rapport signal sur bruit. ISI SS40 est optimisé pour les applications d'analyse et d'imagerie, en utilisant son large éventail de caractéristiques pour l'analyse des caractéristiques de surface, la chimie, la topographie, la composition, etc. Il dispose d'un détecteur de mesure de caractéristiques analytiques assisté par algorithme (AFMD) avec un système intégré de piquage d'image. L'AFMD est capable de mesurer avec précision l'emplacement des caractéristiques fines et de mesurer les orientations cristallines dans le plan et hors du plan. En outre, SS40 peut fournir des modes d'imagerie corrélative, où l'on peut obtenir simultanément des électrons à balayage et des images spectroscopiques. ISI SS40 comprend de nombreuses autres fonctionnalités spécialement conçues pour une plus grande efficacité, précision et commodité. Il dispose d'un système automatisé d'alignement à basse dépression avec réglage automatisé des étages, et d'une source de plasma micro-ondes intégrée pour les opérations de pulvérisation ou de nettoyage. Il comprend également une interface d'échantillonnage automatisée et une interface utilisateur ergonomique, complétée par un contrôle tactile « facile d'accès » et des interfaces graphiques. SS40 est un instrument incroyablement puissant pour l'étude des caractéristiques et des processus à l'échelle nanométrique. Des capacités d'analyse et d'imagerie aux outils et systèmes automatisés, ISI SS40 est conçu pour faciliter l'imagerie et l'analyse à haute résolution d'un large éventail d'échantillons.