Occasion JAM 7000f #9243703 à vendre en France

JAM 7000f
ID: 9243703
Scanning Electron Microscope (SEM) With Windows.
JAM 7000f est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications d'imagerie et de microscopie. L'instrument a des performances exceptionnelles pour une seule colonne, car il dispose d'un canon d'émission de champ d'anode courbé avec une tension d'accélération jusqu'à 30 kV, un temps de séjour jusqu'à 1µs et un angle d'incidence jusqu'à 85 °. L'équipement avancé d'ultramicrotomie permet la préparation de spécimens avec une épaisseur abaissant jusqu'à 0,5 µm. Son étage automatisé permet le balayage avec une vitesse et une précision ultra-élevées. L'optique électronique au microscope 7000f est constituée d'une colonne de trois ouvertures de lentilles et de deux jeux de lentilles objectives. La colonne est conçue pour une faible aberration, assurant des images vives avec une excellente résolution de 0,8nm. Un système optionnel de balayage par faisceau électrostatique aide à visualiser efficacement des échantillons plus grands. La morphologie des spécimens est étudiée dans une chambre SEM environnementale avec contrôle de la température jusqu'à 55 ° C et contrôle de l'humidité relative jusqu'à 95 %. En outre, il est équipé d'une unité de microscopie dispersive d'énergie (EDX) pour analyser la composition chimique des échantillons. Les détecteurs de rayons gamma et une tasse Faraday font de JAM 7000f un outil poreux vraiment polyvalent. La machine est connectée à un PC dédié chargé avec un logiciel d'image spécial CAM500 pour assurer un contraste élevé et des images de résolution. L'interface conviviale de ce logiciel permet des opérations d'échantillonnage, de nettoyage et de gravure faciles. Dans l'ensemble, 7000f est un excellent microscope électronique à balayage pour l'imagerie haute résolution et l'analyse de spécimens. Il permet d'obtenir des informations détaillées sur la structure physique, la composition chimique ainsi que la topographie de surface des échantillons.
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