Occasion JAM JSM 7000F #9260023 à vendre en France

JAM JSM 7000F est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour l'observation des caractéristiques de surface et la composition de petits échantillons dans divers milieux de recherche. Cet instrument est capable de produire des images à très haute résolution au niveau atomique. Il a une grande variété de caractéristiques qui le rendent idéal pour une variété d'applications. JSM 7000F a une surface d'échantillonnage efficace de 11 cm2 et une résolution comprise entre 0,2 et 50 nm. Il a une tension d'accélération pouvant atteindre 10 kV, ce qui permet une imagerie rapide et une grande sensibilité. Le microscope est également équipé d'un détecteur de champ électromagnétique (EMF) dans la lentille, ce qui améliore la détection des signaux de basse énergie et réduit le bruit. Le courant du faisceau est également réglable, permettant aux utilisateurs d'obtenir des images avec un contraste et un détail extrêmement élevés. Le microscope dispose également d'un système de lentilles magnétiques à deux étages réglables manuellement sur l'axe qui lui permet d'obtenir une résolution maximale et des résultats d'imagerie appropriés. De plus, le système d'échelle de balayage permet l'acquisition simultanée d'images multiples avec différents paramètres de grossissement. Ce système permet également de contrôler la vitesse de balayage et la durée d'acquisition du signal. JAM JSM 7000F est équipé d'une fonction d'échange automatisé de spécimens (ASE), qui permet aux spécimens d'être échangés rapidement, avec précision et en toute sécurité d'un détenteur à l'autre. L'ASE peut être utilisé pour des spécimens nécessitant des techniques de refroidissement par air ou par liquide. Cette caractéristique permet également l'analyse de différents types d'éléments et de compositions de matériaux. Le détecteur intégré est capable de produire des images dans des paramètres de champ lumineux ou sombre. De plus, l'utilisation d'un détecteur de diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) peut également être utilisée pour traiter et analyser des images, permettant aux chercheurs de comprendre l'orientation cristallographique de chaque échantillon. Dans l'ensemble, JSM 7000F offre des capacités d'imagerie et d'analyse inégalées. Il a réduit les capacités d'irradiation du faisceau d'électrons et d'échange automatisé de spécimens, ainsi que l'imagerie haute résolution. Cela en fait un excellent choix pour l'analyse de petits échantillons dans divers contextes de recherche.