Occasion JEOL 100C #126353 à vendre en France

JEOL 100C Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant outil d'analyse utilisé pour de nombreuses applications allant des sciences de la vie à l'ingénierie des matériaux. Il utilise l'optique électronique avancée, plusieurs détecteurs et un logiciel personnalisé pour effectuer l'imagerie haute résolution, l'analyse élémentaire et l'analyse chimique. 100C dispose d'une chambre haute compatible avec le vide, canon à électrons néotérique, et un étage motorisé, offrant un large éventail de possibilités dans la recherche. JEOL 100C offre jusqu'à 10 nm de résolution en imagerie électronique secondaire et jusqu'à 5 nm de résolution en mode d'imagerie électronique rétrodiffusée. Son canon à électrons a une distance de travail maximale de 150 mm et une tension d'accélération maximale de 30 KV. Il a en outre une plage de pression de chambre sélectionnable aussi bas que 10-3 Pa qui permet un fonctionnement à basse dépression. L'opération à vide élevé avec une résolution de 6 nm est idéale pour l'imagerie à haute résolution des échantillons à faible rugosité de surface. 100C est équipé d'une large gamme de détecteurs qui peuvent être utilisés dans les modes d'imagerie et d'analyse. Ceux-ci comprennent un grand détecteur STEM fournissant une analyse élémentaire et chimique, ainsi qu'un filtre d'image pour l'amélioration du contraste et un détecteur de rétrodiffusion pour l'analyse d'échantillons. En outre, JEOL 100C dispose également d'un détecteur d'électrons secondaires, d'un détecteur EDX et d'un détecteur de charge pour une analyse complète. La suite logicielle de contrôle personnalisée sur 100C offre une large gamme de fonctionnalités. Ceux-ci comprennent le contrôle de navigation avec un système de navigation polaire facile à utiliser, le contrôle de filtre d'image pour l'amélioration du contraste, et la programmabilité en pleine étape pour l'imagerie et l'analyse automatisées. De plus, JEOL 100C prend également en charge la préparation des échantillons, comme l'analyse transversale, et dispose d'une bibliothèque intégrée de caractéristiques spéciales pour les applications spécialisées. En conclusion, 100C est un microscope électronique à balayage avancé fournissant une imagerie haute résolution et une analyse avancée d'une large gamme d'échantillons. Doté d'étages motorisés, d'une chambre compatible haute dépression et d'une large gamme de détecteurs, il est un outil idéal pour de nombreuses applications. Enfin, le logiciel intégré de JEOL 100C assure l'exécution cohérente et en temps utile des tâches d'imagerie et d'analyse.