Occasion JEOL 100CX #9113928 à vendre en France

JEOL 100CX
ID: 9113928
Scanning electron microscope, SEM.
JEOL 100CX est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des applications nécessitant une haute résolution, une grande profondeur de champ et une imagerie à fort contraste. C'est un choix idéal pour un large éventail de recherches en sciences des matériaux et d'applications industrielles, y compris l'analyse des métaux, des plastiques, des semi-conducteurs et de la céramique. 100CX utilise un filament de tungstène (W) comme source d'électrons, qui fournit une image très haute résolution, permettant aux utilisateurs d'examiner et d'analyser les caractéristiques dans la gamme des nanomètres. Ce SEM dispose d'un filament W de haute puissance pour produire une image haute résolution qui est idéale pour l'imagerie ultra-basse-kV et de haut grossissement. JEOL 100CX dispose d'un grand champ de vision de 25 mm de diamètre permettant aux utilisateurs de voir l'ensemble de l'image clairement. Il dispose d'un étage de pompage différentiel avancé qui fournit une grande stabilité, de faibles vibrations, et un environnement de vide propre. Le contrôle de pression variable permet à l'utilisateur de changer la pression de fonctionnement d'un minimum de 10-4 mbar à un maximum de 10-5 mbar pour une meilleure imagerie à faible kV. Le système de pompage différentiel bénéficie également d'un rayon de pompage variable, permettant à la chambre d'échantillonnage de maintenir un environnement de vide propre pour une large gamme de tailles d'échantillons. Une des caractéristiques les plus avantageuses de 100CX est qu'il utilise une technique d'imagerie à faible kV. Cette technique offre plus de contraste et de résolution que l'imagerie conventionnelle, même en imagerie à des grossissements plus élevés. Les images haute résolution générées par JEOL 100 CX sont également capables de montrer plus en détail les caractéristiques de surface. JEOL 100CX offre également une gamme de fonctionnalités automatisées telles que l'alignement des étages d'échantillonnage, l'autofocus haute vitesse et le sous-échantillonnage automatisé. Ces fonctionnalités permettent aux utilisateurs d'obtenir efficacement les données dont ils ont besoin sans réglage manuel, ce qui minimise la variabilité et l'erreur de l'utilisateur. D'autres fonctionnalités avancées comprennent un changeur d'échantillon motorisé pour les changements automatisés d'échantillons, un système piloté par ordinateur pour la commutation entre détecteurs et un logiciel d'analyse automatisé. Dans l'ensemble, 100CX est un microscope électronique à balayage avancé avec des caractéristiques et des capacités qui en font un excellent choix pour de nombreuses applications de la science des matériaux et de l'industrie. Avec son imagerie haute résolution, sa technique d'imagerie bas kV et ses nombreuses fonctionnalités automatisées, il fournit aux utilisateurs un outil puissant et fiable pour réaliser des images et des analyses de haute qualité.
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