Occasion JEOL 1200EX #9149435 à vendre en France

JEOL 1200EX est un microscope électronique à balayage (SEM) qui est utilisé dans une variété d'applications scientifiques et industrielles. Ce dispositif haute résolution affiche une image 3D exceptionnellement détaillée d'un spécimen qui est agrandi jusqu'à 200 000 fois. En tant que STEM dispersif en énergie, il utilise à la fois des électrons et des rayons X pour obtenir des images et générer des spectres, permettant une analyse approfondie. L'instrument dispose d'un équipement de refroidissement thermoélectronique qui assure un fonctionnement cohérent dans une large gamme de températures. La préparation des échantillons est facilitée par l'utilisation d'une chambre automatisée remplie de gaz, ce qui permet de faire varier la pression appliquée. Le système peut également être équipé d'un étage à faible vide, ce qui le rend adapté aux applications à faible vide. L'étage d'échantillonnage du SEM est motorisé pour fournir un alignement exact et un positionnement répétable. De plus, son unité de commande avancée permet une navigation précise de l'appareil, même aux grossissements maximaux. Sa machine de détection haute sensibilité assure des résultats fiables, même pour les plus petites caractéristiques. De plus, la luminosité et la luminosité adaptative de l'image peuvent être ajustées pour maximiser le contraste de l'image. L'outil est livré avec un actif avancé de fibre optique pour permettre la manipulation complexe de l'échantillon. Les modèles complexes peuvent être modélisés à l'aide d'une interface AutoSEM qui prend en charge le chargement des fichiers de données STL. Le canon 100kV 300mm est la principale source d'électrons, tandis que son ouverture permet une analyse dynamique. Une source d'électrons avec une tension d'accélération 140kV est également disponible pour les applications nécessitant une précision et une résolution plus élevées. JEOL 1200-EX est un instrument rapide et efficace avec de superbes performances. Il est idéal pour la science des matériaux, la métrologie des semi-conducteurs, l'analyse des défaillances et les applications des nanosciences. Sa conception ergonomique et son interface intuitive garantissent un fonctionnement facile et des résultats fiables.