Occasion JEOL 2000FX #78020 à vendre en France

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ID: 78020
Transmission electron microscope (TEM), 200kV Configured as a CTEM Thin window EDS detected No analyzer or computer Can be customized.
JEOL 2000FX est un microscope électronique à balayage à haute résolution (FESEM) qui fournit une imagerie qualitative, une analyse élémentaire et une caractérisation nanométrique des matériaux. Il est capable de fonctionner dans des modes à vide élevé et faible, avec une résolution de 0,5 à 10 nm. JEOL 2000-FX utilise un canon à émission de champ (FEG) pour générer un faisceau d'électrons très stable et à haute résolution, offrant un contraste et une résolution accrus. Le canon est équipé d'un détecteur d'imagerie CCD Gatan Performus™ 12k x 12k pour l'imagerie haute résolution à contraste élevé. Son système anti-contamination utilise une combinaison de bombardement par ions légers et de refroidissement par azote liquide pour réduire les sources communes de contamination des échantillons. 2000FX dispose également d'un mode à basse dépression facile à utiliser conçu pour la caractérisation des matériaux à l'échelle nanométrique. Le mode à vide réduit offre les mêmes capacités d'imagerie et d'analyse que le mode à vide élevé, mais avec un niveau de vide réduit, en utilisant une colonne FESEM spéciale conçue spécifiquement pour les matériaux nanométriques. Ce mode est idéal pour étudier les nanomatériaux, car les caractéristiques nanométriques conservent leur forme et leur taille sans distorsion. 2000-FX comprend plusieurs accessoires optionnels pour les capacités étendues. Il s'agit notamment d'un seul porte-spécimen incliné pour la collecte de l'analyse EDX dans des vues inclinées pour l'imagerie tridimensionnelle, d'un détecteur avancé d'illumination transmise (ATILD) pour l'imagerie de micrographes à très basse tension avec une excellente résolution, et d'un objectif de champ magnétique interne pour l'imagerie de matériaux magnétiques en haute résolution. JEOL 2000FX est un outil d'imagerie puissant et polyvalent, capable de fournir une imagerie qualitative, une analyse élémentaire et une caractérisation nanométrique à un prix abordable. Avec son temps d'acquisition de données rapide, son mode à vide réduit facile à utiliser pour les nanomatériaux et ses accessoires optionnels pour des capacités étendues, JEOL 2000-FX est un choix idéal pour de nombreuses applications d'imagerie et d'analyse.
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