Occasion JEOL 2000FX #9389978 à vendre en France

JEOL 2000FX est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe conçu pour l'imagerie haute performance au niveau sub-microscopique. JEOL 2000-FX est un microscope polyvalent qui permet l'imagerie à haute résolution de spécimens allant de 10nm à 1 micron, ce qui le rend idéal pour évaluer des micro-structures dans une variété d'échantillons. Son optique électronique avancée est dotée d'un objectif haute performance de type immersion et d'une optique électronique hautement ajustée avec une aberration ultra-faible et une haute résolution. En outre, 2000FX dispose d'un large éventail de modes et de techniques d'imagerie, de l'imagerie électronique rétrodiffusée à l'analyse élémentaire des rayons X, lui donnant la capacité d'analyser à la fois les structures de surface et de sous-surface des spécimens. 2000-FX dispose d'un système de collecte de courant couplé Everhart-Thornley breveté, qui fournit un fond bas fiable, une imagerie de contraste élevé et une haute résolution spatiale. La longueur du détecteur Everhart-Thornley, en constante évolution, entraîne un angle de vision plus large, ce qui réduit le besoin d'un assemblage d'images excessif pour visualiser de grands champs de vue. Inversement, sa mise en page non évolutive permet une acquisition de données plus rapide et des temps d'imagerie plus rapides. JEOL 2000FX comprend également un contrôle de l'inclinaison de l'étage de l'échantillon, permettant une visualisation plus précise des structures de l'échantillon incliné. Cette configuration, combinée à des fonctions entièrement automatisées telles que le centrage automatique, les cheveux croisés éclairés et l'alignement optique semi-automatisé donnent des résultats reproductibles et précis. JEOL 2000-FX dispose également d'un système à vide élevé, qui assure la stabilité dans l'environnement de travail et augmente la résolution des images produites. Le vide élevé est généré à l'intérieur de la chambre de microscopie, éliminant le besoin d'une pompe à vide et d'une chambre séparées, ainsi que la réduction du coût et de la consommation d'énergie. En outre, 2000FX a un intégré 3600C | la source d'électron d'°, qui produit un rayon continuellement ferme pour une longue période de temps sans besoin pour l'adaptation manuelle. La combinaison de l'optique électronique avancée, du détecteur Everhart-Thornley, des fonctions automatisées et du vide élevé permet aux 2000-FX de produire des images nettes et claires de divers matériaux d'échantillonnage. Dans l'ensemble, JEOL 2000FX Microscope offre des capacités d'imagerie puissantes et précises pour une variété d'applications. Avec son optique électronique avancée et ses fonctions automatisées, JEOL 2000-FX peut être utilisé pour l'imagerie de surface et profonde. Son large éventail de caractéristiques permet une analyse rapide et efficace des structures au niveau sub-microscopique avec une précision et une répétabilité fiables.