Occasion JEOL 2010 #9157313 à vendre en France

JEOL 2010 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse d'une large gamme d'échantillons matériels. Il offre une imagerie haute résolution avec un faisceau d'électrons accélérés jusqu'à 10kV, et permet des tensions ultra-basses jusqu'à 50nm de résolution. Il dispose d'un impressionnant 4 étages de balayage réglables indépendamment ainsi que d'un régulateur de température de refroidissement qui maintient une température désirée pendant l'imagerie et la manipulation des échantillons. 2010 dispose d'un détecteur de champ sombre annulaire de balayage intégré (ADF) et d'un équipement exclusif de compensation de dérive Focus pour l'imagerie sans flou et l'agrandissement accru. Le système ADF fournit également des informations sur la topographie des spécimens à diverses profondeurs pour une plus grande précision dans l'imagerie de caractéristiques spécifiques. Le détecteur EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy) peut analyser avec précision la composition élémentaire et la morphologie des spécimens. JEOL 2010 dispose également d'un module de chauffage/décharge Glow dédié pour enduire les échantillons avec une couche ultra-mince d'or ou d'autres métaux. Ce revêtement peut améliorer la visibilité des échantillons et fournir une imagerie de contraste élevé. Le module est équipé d'une plaque chauffante intégrée et d'un moniteur de température pour un réglage parfait de la structure du film afin d'obtenir les résultats finaux d'imagerie souhaités. En plus de ses capacités impressionnantes, 2010 offre des contrôles conviviaux et des menus intuitifs pour une navigation plus facile et un accès rapide à l'information. Il dispose également d'une unité automatisée d'acquisition d'images qui peut stocker jusqu'à 10 images d'échantillons pour une future référence et comparaison. Cette machine est intégrée à des systèmes de chargement d'échantillons contrôlés par ordinateur pour améliorer la précision et la vitesse. Dans l'ensemble, JEOL 2010 est un puissant microscope électronique à balayage offrant des capacités d'imagerie et d'analyse haute résolution, des contrôles intuitifs et des menus conviviaux, et des performances exceptionnelles dans toutes les tâches SEM. L'instrument polyvalent est idéal pour des applications dans des contextes de recherche et industriels, et peut grandement améliorer la qualité et l'exactitude de la collecte et de l'analyse des données.