Occasion JEOL 2010F #293757804 à vendre en France

JEOL 2010F est un microscope électronique à balayage très avancé (SEM) capable de fournir des images détaillées d'un large éventail de matériaux et de composants, de l'échelle nanométrique à l'échelle macroscopique. Il est conçu pour la recherche et les applications industrielles, y compris la pharmacie, la métallographie et l'électronique. Au cœur se trouve une source d'émission de champ qui produit des images d'électrons à balayage haute résolution d'échantillons à travers la collecte secondaire et rétrodiffusée d'électrons. Ce détecteur est couplé à un nouvel équipement d'optique de pointe, ce qui rend le système capable de détecter l'inclinaison et la rotation du micron. JEOL 2010 F dispose également d'une caméra CCD très sensible capable de capturer des images de contraste élevé dans une variété de résolutions. Cette caméra est connectée à un ordinateur et peut être contrôlée par un logiciel, permettant des niveaux incroyables de réglage fin. Le SEM peut être utilisé pour observer une grande variété d'échantillons, des matériaux isolants aux métaux, substances, solides et composés. Le large éventail de types d'échantillons et de grossissements font de 2010F un outil idéal pour la caractérisation et l'analyse. L'unité est polyvalente, avec des options de contrôle double détecteur et différents modes d'analyse. Son architecture électronique numérique de pointe permet une installation rapide des machines, et ses nouvelles capacités de balayage garantissent la vitesse et la précision. En outre, sa configuration multifaisceaux prend en charge l'imagerie simultanée, permettant un délai plus rapide pour la collecte des résultats et des données. 2010 F est un SEM puissant capable de fournir des capacités d'imagerie et d'analyse avancées. Avec sa haute résolution, sensibilité, contraste et résolution de contraste, il est un choix idéal pour les applications industrielles et scientifiques. Sa conception avancée et ses options polyvalentes en font un outil idéal pour l'application moderne de la microscopie électronique à balayage.