Occasion JEOL 2010F #9283823 à vendre en France

JEOL 2010F est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre aux utilisateurs des capacités idéales pour un large éventail d'applications dans de nombreuses industries. L'instrument est équipé d'une gamme de fonctionnalités avancées, permettant aux utilisateurs expérimentés et novices de préparer rapidement et facilement des échantillons pour l'observation. Le dispositif a une grande taille de chambre, permettant à l'utilisateur d'observer des échantillons plus grands - jusqu'à 12 cm de diamètre. Il est équipé d'un FEG avec une haute luminosité, permettant une bonne focalisation, le contraste et la résolution. Sa technologie polepiece à commutation rapide non magnétique offre des performances élevées, produisant des images claires et des angles stéréo élevés. Le dispositif comprend une gamme complète de détecteurs, y compris des détecteurs d'électrons secondaires et rétrodiffusés. Son détecteur d'électrons rétrodiffusés de 4 quadrants produit des images à haute résolution et peut être utilisé pour mesurer de petits objets. Il dispose également d'un détecteur d'électrons secondaire avec un grand angle solide, offrant une excellente efficacité et sensibilité. Le système dispose également de plusieurs capacités d'analyse, le rendant adapté à une multitude d'applications. Son détecteur de rayons X dispersifs en énergie (EDX) fournit aux utilisateurs des informations sur la composition et l'épaisseur des échantillons, permettant d'identifier les éléments présents dans l'échantillon. Son détecteur EBSD (Electronic Backscattered diffraction) est idéal pour la cristallographie avancée, permettant aux utilisateurs d'analyser la structure atomique, l'orientation et la déformation dans les grains individuels et les couches minces. JEOL 2010 F offre un certain nombre de fonctionnalités automatisées, ce qui le rend extrêmement convivial. Ses fonctions automatiques peuvent être utilisées pour configurer rapidement des expériences, économisant du temps et de l'effort aux utilisateurs. Il dispose également d'une commande de faisceau d'électrons à balayage, permettant à l'utilisateur de déplacer ou de scanner l'échantillon avec précision. Enfin, son électronique numérique automatisée offre une excellente résolution intermédiaire. 2010F est un excellent microscope électronique à balayage, adapté à un large éventail d'applications. Avec ses fonctionnalités sophistiquées et ses capacités automatisées, il est un instrument idéal pour les utilisateurs professionnels et novices.