Occasion JEOL 2011 LaB6 #293808785 à vendre en France

JEOL 2011 LaB6 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit des capacités d'imagerie et d'analyse à haute résolution. Il utilise un canon à émission de champ thermique (FEG) pour générer le faisceau d'électrons pour balayer les électrons électrostatiques, rétrodiffusés, radiographiques et secondaires. Ce microscope fonctionne sous un vide ultra-élevé et a une plage de grossissement allant de 30X à 300,000X. 2011 LaB6 comporte un étage motorisé qui permet un balayage rapide et un positionnement précis de l'échantillon dans la chambre d'échantillonnage. Il présente une conception de colonne électronique de pointe pour l'élimination de l'astigmatisme induit par la sonnerie de champ. La chambre de prélèvement est équipée d'un système automatisé d'injection de gaz pour réduire les effets de charge sur les échantillons isolants. JEOL 2011 LaB6 comprend également des capacités d'imagerie et d'analyse numériques. Son système d'imagerie numérique haute résolution dispose à la fois de systèmes optiques et de détecteurs d'électrons pour le plus haut niveau de fidélité à l'image. De plus, ses outils intégrés d'analyse d'image permettent une identification semi-automatisée des particules et des mesures quantitatives. 2011 Le système de contrôle et de stockage des spécimens entièrement automatisé de LaB6 permet une commutation transparente des spécimens ainsi que l'acquisition et le stockage des données. Cela rend le microscope idéal pour de multiples parcours ou de grands spécimens. Un ordinateur intégré avec accès Internet permet à l'utilisateur de surveiller les opérations du microscope, d'analyser les images et de gérer les données acquises. JEOL 2011 LaB6 comprend en outre un détecteur et un obturateur avancés pour l'amplification des rayons X (IDISX) qui élargissent largement la gamme des algorithmes logiciels disponibles pour le traitement et l'analyse des images. Ce SEM est devenu un outil essentiel pour la recherche dans la production d'appareils et de composants à micro et nano-échelle, dans des domaines tels que l'électronique et la science des matériaux.