Occasion JEOL 2011 #9224590 à vendre en France

JEOL 2011
ID: 9224590
Transmission electron microscope (TEM).
Le microscope électronique à balayage JEOL 2011 (SEM) est un outil d'imagerie haute résolution qui permet une inspection détaillée des spécimens et l'analyse des caractéristiques de surface en ultra-haut détail. Il est capable de produire des grossissements allant jusqu'à 500 000 x avec une résolution de < 1,0nm et une grande profondeur de champ pour une imagerie optimale des caractéristiques tridimensionnelles. La combinaison des caractéristiques de ce microscope le rend idéal pour un large éventail d'applications, de l'imagerie à faible bande passante des sujets bénins à l'inspection à haute résolution des composants industriels. Le microscope fonctionne en balayant un faisceau d'électrons focalisés sur un échantillon, ce qui entraîne une émission secondaire d'électrons, de rétrodiffusion ou de rayons X. Les signaux obtenus sont ensuite amplifiés et projetés sur un écran luminophore pour produire une image. L'intensité et le positionnement du faisceau d'électrons peuvent être ajustés pour souligner des caractéristiques différentes ou pour observer des caractéristiques d'échantillon différentes dans une zone. En plus des capacités d'imagerie, 2011 offre également une variété de capacités d'analyse. Elles comprennent la quantification des caractéristiques de surface, l'analyse de la composition, la morphologie et la cristallinité. En plus de ces fonctions analytiques, il fournit une multitude de fonctionnalités pour faciliter le fonctionnement et l'analyse, telles qu'une étape de basculement qui permet d'inspecter les caractéristiques étagées dans un échantillon et une routine d'analyse automatisée. JEOL 2011 est un outil d'imagerie et d'analyse polyvalent avec une variété de fonctionnalités pour permettre l'inspection et l'analyse à haute résolution d'un large éventail d'échantillons. Sa combinaison de caractéristiques produit des images utilisables, reproductibles et significatives des relations entre les propriétés de surface et la structure sous-jacente d'un échantillon. Avec ses nombreuses fonctionnalités, 2011 peut être un atout précieux dans un large éventail d'applications industrielles et de recherche.
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