Occasion JEOL 35 #126386 à vendre en France

JEOL 35
ID: 126386
Scanning electron microscope, TEM detector, parts system.
JEOL 35 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie de haute précision et l'analyse d'une large gamme d'échantillons. Il dispose d'un large champ de vision, profondeur de champ et performance de résolution, avec des images qui peuvent être agrandies jusqu'à 2000x la taille originale. Sa conception robuste le rend fiable et idéal pour l'imagerie d'échantillons dans une variété de matériaux dont les métaux, la céramique, les polymères et les produits organiques. 35 est équipé d'un mode à vide faible qui fournit des capacités rapides d'imagerie et d'analyse des échantillons. Il est équipé d'un système de canon à émission de champ qui permet un contrôle précis de la taille de l'échantillon avec un courant de faisceau primaire élevé de 0,5 à 5 nano-ampères. Cela permet l'imagerie à différents agrandissements pour un champ de vision et une résolution maximum. Le SEM est équipé d'une grande variété de systèmes de détection comprenant des détecteurs d'électrons secondaires et des détecteurs d'électrons rétrodiffusés pour augmenter le contraste d'image et améliorer la profondeur de mise au point. JEOL 35 fonctionne avec un système d'étage automatisé qui permet le positionnement précis de l'échantillon et la navigation précise vers différentes zones de l'échantillon. L'étage offre une plage de déplacement maximale de 280mm x 280mm. Il dispose également d'une grande chambre de spécimen avec une taille maximale de 800mm x 800mm, permettant l'imagerie de grands échantillons. Le SEM est alimenté par un système d'imagerie numérique haute vitesse qui combine les données des détecteurs et de l'optique électronique pour créer des images numériques de l'échantillon pour une analyse plus approfondie. 35 comprend également des logiciels innovants pour l'amélioration, la manipulation et l'analyse de l'image. Ce sont des caractéristiques intégrées qui fournissent des caractéristiques telles que la segmentation d'image, l'analyse spectrale et l'intégration de profil de ligne. Ce logiciel permet aux utilisateurs de faire des mesures précises, d'analyser des données et de créer des modèles 3D. JEOL 35 est conçu pour permettre aux utilisateurs d'effectuer des mesures précises, d'analyser des données complexes et de manipuler des images pour extraire le maximum d'informations d'un échantillon. Sa conception polyvalente, sa robustesse et ses capacités de haute performance en font l'outil d'imagerie idéal pour une variété de domaines, tels que les sciences des matériaux, la minéralogie et la géologie.
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