Occasion JEOL 35S #9375350 à vendre en France

JEOL 35S est un microscope électronique à balayage (SEM) avec une grande profondeur de champ et une capacité d'imagerie haute résolution. Cet instrument a un grand champ de vision et fournit des images de contraste élevé qui peuvent être utilisées pour des mesures et des analyses précises. Le système de détection présente une sensibilité élevée et un plancher sonore faible permettant d'estimer avec précision les caractéristiques des échantillons et leur taille. Le système peut également accueillir divers types d'échantillons, y compris des matériaux conducteurs et non conducteurs, offrant un large éventail de capacités d'imagerie. La conception de 35S est basée sur une lentille colonne créée à partir de nickel/phosphore, un type apochromat, qui a été construit pour une résolution maximale. Il ne produit pas non plus de distorsion thermique lors de la microanalyse et fournit une intensité élevée à tous les grossissements. La source primaire d'électrons pour JEOL 35S est un canon à émission de champ de tungstène qui peut être utilisé dans une variété d'environnements. Une plage de tension d'accélération vide de 1-30 kV offre une large plage dynamique pour l'imagerie. Le canon fournit un faible bruit de courant de fond, permettant de prendre des images de petits échantillons détaillés. Le détecteur on 35S est un réseau de 12 détecteurs d'électrons secondaires (SE) constitués d'un déflecteur en colonne et d'un détecteur de champ lumineux annulaire (ABF). Le détecteur ABF fournit une imagerie haute résolution à une large gamme de grossissements tandis que le déflecteur améliore le contraste dans les images de surfaces non conductrices. D'autres détecteurs sont disponibles, dont un détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED) et un détecteur de cathodoluminescence (CLD). JEOL 35S est équipé d'un étage motorisé qui permet le déplacement des échantillons dans les axes X, Y et Z pour un positionnement précis. Le logiciel pour le microscope est facile à utiliser, avec la focalisation automatique, l'amélioration du contraste, et des capacités avancées de traitement d'image. 35S peut également être utilisé pour la microanalyse à l'aide de sa microsonde électronique. Il supporte la spectrométrie des rayons X dispersifs en énergie (EDS) et des rayons X dispersifs en longueur d'onde (WDS) pour mesurer la composition élémentaire en plus de l'imagerie. Dans l'ensemble, JEOL 35S a une capacité d'imagerie haute résolution et peut capturer des images précises à partir de divers types d'échantillons. Sa capacité à recevoir des détecteurs en colonne et annulaires le rend adapté à différentes applications. En outre, ses fonctionnalités logicielles et la flexibilité des manipulations d'échantillons en font un outil très fiable et inestimable pour n'importe quel laboratoire.