Occasion JEOL 4500 #9253502 à vendre en France
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ID: 9253502
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
(2) Columns:
30 kV Column with LaB6 electron gun used in SEM
30 kV Ion column with Ga+ion source to allow in FIB
FIB Resolution: 5 nm @ 30 kV
Accelerating voltage: 1 to 30 kV
Magnification: 30x to 300,000x
Maximum beam current: 30 nA @ 30 kV
SEM Resolution: 2.5 nm @ 30 kV
Accelerating voltage: 0.3 to 30 kV
Magnification: 5x to 300,000x.
Un JEOL 4500 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) utilisé pour l'analyse des matériaux et l'imagerie à l'échelle micro et nanométrique. Ce microscope électronique à balayage est équipé d'un détecteur à rayons X dispersif en énergie (EDS) qui peut mesurer les longueurs d'onde et la composition chimique des éléments à la surface de l'échantillon. 4500 est conçu pour fournir une imagerie haute résolution pour un large éventail de matériaux. Le SEM est équipé d'une technologie intégrée à double faisceau, composée d'un détecteur d'électrons secondaires à haute vitesse (SE) et d'un détecteur d'imagerie à plus faible énergie et à plus haute puissance de résolution. Cette combinaison le rend adapté à diverses techniques d'imagerie haute résolution, telles que les balayages en ligne, l'imagerie électronique secondaire et l'imagerie électronique rétrodiffusée. Le microscope fournit également des vitesses d'imagerie rapides et un système de focalisation semi-automatique pour réduire la fatigue de l'opérateur et augmenter sa précision. JEOL 4500 offre une résolution maximale d'imagerie de 2 nm, ce qui le rend idéal pour capturer des structures en détail, y compris des films minces, des nanofils et des circuits intégrés. Le SEM est également équipé d'un détecteur EDS à haute sensibilité qui peut détecter des oligo-éléments jusqu'à des concentrations par milliard sur la surface de l'échantillon. Par rapport aux SEM classiques, 4500 offre une meilleure durée de vie du filament du canon à électrons, avec une durée de vie typique allant jusqu'à 4000 heures. Cela prolonge le temps entre l'entretien et préserve la stabilité de l'instrument sur de longues périodes d'utilisation. Le SEM dispose également d'une conception brevetée d'émetteur de champ pour des densités de courant plus élevées, entraînant des rendements d'électrons plus élevés et un flou de faisceau réduit. L'exploitation du JEOL 4500 est facile grâce à ses fonctionnalités d'automatisation intégrées, telles que sa configuration de séquence de balayage, l'acquisition de montures de gel, la commande de scène motorisée et la focalisation automatique. Le microscope est également équipé d'un ordinateur numérique à haute sensibilité pour stocker les paramètres de l'utilisateur et les données d'image. L'ordinateur numérique est également utilisé pour contrôler les paramètres de mesure. Dans l'ensemble, 4500 est un microscope électronique à balayage avancé pour l'analyse des matériaux et l'imagerie. Il offre une meilleure résolution et précision par rapport aux SEM classiques, ainsi que des fonctionnalités automatisées et un filament de canon à électrons de longue durée pour de longues périodes d'utilisation.
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