Occasion JEOL 5310 #9071905 à vendre en France

JEOL 5310
ID: 9071905
Scanning Electron Microscope (SEM) Tungsten Spare parts.
Le microscope électronique à balayage JEOL 5310 (SEM) est un microscope à haute performance, mais compact, conçu pour la recherche et l'utilisation industrielle. Ce SEM combine des capacités d'imagerie haute résolution avec une technologie d'analyse avancée pour une expérience d'imagerie optimisée. 5310 dispose d'une grande profondeur de champ pour le profilage et l'imagerie de profondeur exceptionnelle, permettant aux utilisateurs de capturer des images claires de petits objets ou de structures complexes. Le SEIS (Secondary Electron Imaging Equipment) assure un contraste d'image élevé et une uniformité d'image lisse. Ce système est également capable de capter des informations de signal en profondeur à l'intérieur des structures de l'échantillon, fournissant une résolution supérieure même lorsque l'on travaille avec des matériaux composites. Le microscope est équipé d'une unité de détection dans la lentille, qui fournit des informations sur la topographie et la composition de l'échantillon. Cette fonction, combinée à une machine de focalisation automatique intégrée, permet d'assurer des mesures précises et une imagerie précise. L'outil d'auto-focalisation du SEM est également capable de compenser le mouvement de surface de l'échantillon et le mouvement des particules. Une autre caractéristique notable de JEOL 5310 est son balayage à grande vitesse et ses faibles performances sonores. Cela garantit un faible temps d'acquisition, tout en maintenant une fenêtre d'imagerie haute résolution. Cet atout offre également un large éventail de techniques analytiques pour l'analyse quanta. 5310 est un choix idéal pour les applications industrielles, académiques et de recherche. Il fournit une plateforme puissante pour une gamme d'applications, y compris l'analyse des matériaux, l'analyse des défaillances, la tribologie et la métallographie. Grâce à son interface utilisateur intuitive et à ses fonctionnalités automatisées, ce microscope permet de capturer rapidement des images précises. Les puissantes capacités d'imagerie du SEM, combinées à des techniques d'analyse avancées, en font un outil inestimable pour une variété d'industries.
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