Occasion JEOL 5310 #9200586 à vendre en France

JEOL 5310 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui peut être utilisé à diverses fins de recherche. Le SEM est parfait pour la spectroscopie à rayons X dispersante à un seul faisceau et à deux faisceaux (EDS et EBSD). En plus des capacités d'imagerie haute résolution et de leur analyse complète, cet instrument est adapté pour sonder un large éventail de matériaux. 5310 SEM a un courant d'émission de 0,05 à 5 nanoampères et une large plage de détection d'électrons secondaires multiples. Avec le bouton de réglage de courant lourd et l'extension de port, il peut détecter et quantifier une variété de fonctionnalités. Il dispose d'une tension accélérée de 2, 3, 5, 8, 10, 15, 20 et 30 KV. Ce SEM peut également être utilisé pour l'enregistrement d'images de balayage de pixels et de lignes ainsi que pour divers traitements et analyses d'images. Afin de faire fonctionner le SEM de manière stable, il a été équipé d'un système d'écoute automatique capable de détecter les changements rapides. Cela permet à l'utilisateur de rester en contact avec la qualité d'image et le chemin d'image actuels et en temps réel. La résolution maximale de JEOL 5310 est de 0,25 nanomètre avec un grand champ de vision de 3,8 cm x 3,8 cm tandis qu'il dispose d'un système optique électronique amélioré qui supporte un total de six objectifs différents. 5310 offre une grande sélection d'accessoires, tels que des filtres de polarisation, des champs de croissant et différents types de détecteurs, permettant à l'utilisateur de configurer la machine en conséquence. Les capacités analytiques de JEOL 5310 comprennent l'EDS et l'EBSD pour l'analyse qualitative et quantitative et l'STEM pour la cartographie élémentaire et l'analyse des lignées. L'ajout de courant d'un détecteur spécial basse tension permet d'acquérir des images de très haute résolution à des tensions d'accélération plus courtes que ce qui est réalisable avec un SEM standard. Enfin, 5310 dispose d'un logiciel de traitement d'image et d'analyse d'image classiques, comprenant la microscopie électronique à balayage, l'imagerie STEM et la diffraction électronique. JEOL 5310 est donc un instrument parfait pour la recherche matérielle et en particulier pour l'étude de la biominéralisation et des matériaux nanostructurés.