Occasion JEOL 6340F #9139647 à vendre en France

JEOL 6340F est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu avec des capacités d'imagerie améliorées et une vaste gamme d'outils d'analyse pour des applications industrielles, scientifiques et éducatives. Avec un système EDS haute performance et un détecteur EBSD intégré, ce SEM fournit des images très détaillées et des résultats d'analyse précis avec une meilleure caractérisation des matériaux. JEOL 6340 F comprend un canon à émission de champ 50kV capable d'obtenir des images à plus haute résolution et une vitesse d'imagerie améliorée, avec une plus grande profondeur de champ et de contraste. L'étage de l'échantillon est maintenu immobile à basse fréquence de vibration, offrant une meilleure précision d'imagerie et la possibilité de niveaux de grossissement plus élevés. La chambre offre une taille maximale d'échantillon de 150mm, avec un étage rotatif et une capacité d'échantillon d'environ 12kg. La chambre est également équipée d'une chambre refroidie à l'azote liquide pour l'imagerie à faible kV, offrant une excellente qualité d'image afin de faciliter l'analyse d'échantillons délicats ou stimulants. En plus de ses capacités d'imagerie supérieures, 6340F comprend une suite d'outils d'analyse qui permettent une analyse élémentaire et de surface précise. Le mode d'imagerie SE permet une large gamme de signaux spectraux pour fournir des informations chimiques complètes, l'imagerie électronique secondaire permettant une cartographie élémentaire pour obtenir plus de détails d'échantillon. La diffraction par rétrodiffusion d'électrons permet de caractériser la surface et de mesurer les limites du grain et d'autres propriétés dans les métaux, les céramiques et les ciments. Le mode EDX offre une précision et une sensibilité de détection améliorées, avec une résolution d'atome unique. De plus, de nombreux détecteurs peuvent être intégrés dans la chambre pour étendre des capacités, telles que la spectrométrie à rayons X dispersive d'énergie, la diffraction des rayons X et la spectroscopie de claquage induite par laser (LIBS). Toutes ces capacités d'analyse permettent à 6340 F d'offrir une gamme complète de performances de caractérisation et d'analyse, ce qui en fait un outil idéal pour la science des matériaux et les applications industrielles.