Occasion JEOL 6400F #9071901 à vendre en France

JEOL 6400F est un microscope électronique à balayage de nouvelle génération (SEM). Cet instrument est un outil polyvalent qui peut être utilisé pour diverses applications d'imagerie et d'analyse à l'échelle nanométrique. 6400F utilise une source d'électrons pour générer un faisceau d'électrons qui est ensuite focalisé et manipulé pour créer une image de la surface de l'échantillon. Cet instrument hautement fiable et sensible offre les avantages de l'imagerie haute résolution, des opérations d'analyse à haut débit et de la facilité d'utilisation et de maintenance. JEOL 6400F est équipé d'un canon à électrons refroidi à l'eau à pression variable. Cela permet aux utilisateurs de régler la pression de fonctionnement de la chambre, ce qui permet de minimiser la charge de surface indésirable et de fournir une imagerie précise sans avoir à ajuster la tension d'accélération. Le canon peut atteindre une tension d'accélération maximale de 30kV, et est capable de focaliser le faisceau d'électrons en un spot d'un diamètre de 25 nm. Divers détecteurs sont inclus dans le SEM, notamment : détecteur d'électrons secondaire, détecteur d'électrons rétrodiffusés, spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS) et spectromètre à rayons X dispersif de longueur d'onde (WDS). Le système EDS peut être utilisé pour l'analyse élémentaire, tandis que le système WDS peut être utilisé pour une analyse chimique plus précise. En plus des opérations d'imagerie et d'analyse, 6400F possède plusieurs autres caractéristiques qui en font un outil idéal pour la recherche en nanotechnologie. Il comprend une étape qui peut être contrôlée manuellement ou automatiquement, permettant aux utilisateurs de tourner, de basculer ou de déplacer des échantillons afin d'imiter différentes zones d'intérêt. Il comprend également des logiciels de traitement et d'exploitation automatisés qui peuvent aider les chercheurs à acquérir avec précision et rapidité les données nécessaires à l'analyse. JEOL 6400F offre une excellente résolution et une grande stabilité, ce qui en fait un excellent instrument de recherche en nanotechnologie. C'est un instrument facile à utiliser, et ses différentes caractéristiques le rendent suffisamment polyvalent pour être utilisé pour un large éventail d'applications. Ses capacités d'analyse et d'imagerie dépassent celles des outils de microscopie classiques et peuvent aider les chercheurs à acquérir des connaissances précieuses sur le monde nanométrique auquel les techniques traditionnelles ne peuvent accéder.