Occasion JEOL 6400FV #9071902 à vendre en France
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ID: 9071902
Field Emission Microscope (FEM)
Secondary and backscatter imaging
Specimen chamber cold-finger.
JEOL 6400FV Scanning Electron Microscope (SEM) est un microscope avancé avec de nombreuses fonctionnalités et capacités. 6400FV est un équipement de pointe conçu pour la recherche dans divers domaines, de la criminalistique à la science des matériaux. JEOL 6400FV est équipé de l'imagerie électronique secondaire et de l'imagerie électronique rétrodiffusée, permettant des capacités de haute résolution pour une variété de spécimens. Il est également conçu pour le fonctionnement à pression standard et variable, et dispose de détecteurs de rétrodiffusion à 4 quadrants pour améliorer les capacités de caractérisation. De plus, la chambre de l'échantillon est équipée d'angles d'inclinaison multiples et de limites de l'échantillon pour diverses applications SEM. 6400FV dispose d'un nouveau détecteur EDS (Energy Dispersive Spectromtry) qui fournit une meilleure qualité de données en raison de sa grande surface active et de ses taux de comptage élevés. Il dispose également d'une zone « fenêtre fixe » qui réduit le temps nécessaire à l'acquisition de données EDS et augmente le débit. En outre, cet instrument offre un système avancé d'automatisation et de vérification informatique qui simplifie la configuration de l'unité. JEOL 6400FV dispose d'un appareil photo numérique et d'un logiciel contrôlé par ordinateur pour l'acquisition et l'analyse de données. La caméra fournit des images à des résolutions allant jusqu'à 5 120 x 3 840 pixels avec une profondeur de couleur de 16 bits, fournissant une gamme complète de couleurs et de détails. Le logiciel contrôlé par ordinateur peut traiter les images et les stocker sur n'importe quel format d'ordinateur. Les capacités d'imagerie de 6400FV sont encore améliorées par sa pression de chambre variable allant jusqu'à 10-2 mtorr. De plus, JEOL 6400FV est conçu pour fonctionner avec des évaporateurs pour le revêtement d'échantillons avec des couches minces et pour le dépôt de matériel. La machine avancée dispose également d'un mode à vide élevé qui est idéal pour l'imagerie de fond bas. 6400FV est un outil avancé qui offre un large éventail de capacités pour la recherche avancée. Les capacités d'imagerie électronique et d'automatisation avancée permettent aux utilisateurs d'accomplir diverses tâches, notamment la caractérisation des matériaux, les enquêtes médico-légales et le dépôt de couches minces. En outre, les pressions variables, les caméras numériques et les logiciels contrôlés par ordinateur se combinent pour créer un SEM avancé qui est idéal pour une variété d'applications.
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