Occasion JEOL 6490LV #293671640 à vendre en France

ID: 293671640
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL 6490LV est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour fournir une gamme de capacités analytiques aux laboratoires de recherche. Il offre des avantages importants pour un large éventail d'applications, y compris l'analyse in situ, l'analyse de défaillance, l'analyse de circuit, la métallographie et l'imagerie 3D. 6490LV est équipé d'un équipement JED 2421 à pression variable/haute dépression qui permet à la fois un fonctionnement à vide élevé et à pression variable. Cela améliore la précision des résultats d'imagerie et d'analyse car il réduit la dérive du faisceau et garantit une qualité d'image supérieure dans toutes les conditions de fonctionnement. JEOL 6490LV est équipé d'un détecteur de filaments de type W à faible absorption qui fournit des images vives et un champ de vision plus grand avec des ouvertures plus grandes. Il a une plage de grossissement allant jusqu'à x500000 et une résolution latérale de 3 nm, donnant d'excellentes performances d'imagerie et permettant une analyse détaillée des objets. La conception à haut débit de 6490LV permet un balayage rapide de grandes surfaces tout en maintenant une excellente imagerie haute résolution. Il est équipé d'un système automatisé de contrôle du faisceau d'électrons, qui permet aux utilisateurs de configurer rapidement leurs expériences, leurs paramètres de balayage et leurs modes d'image. La conception du détecteur JEOL 6490LV est capable de supporter des techniques de détection avancées telles que la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS). En outre, 6490LV est équipé d'une unité d'imagerie numérique qui permet un accès instantané à des images détaillées et claires. Dans l'ensemble, JEOL 6490LV est un microscope électronique à balayage très avancé qui facilite l'analyse de précision d'un large éventail d'échantillons. Ses nombreuses caractéristiques avantageuses, notamment sa machine à pression variable/à vide élevé, son filament de type W à faible absorption et son outil automatisé de commande de faisceau d'électrons, en font un outil durable et fiable pour des applications SEM efficaces.
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