Occasion JEOL 6500F #9234597 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL 6500F (SEM) est l'un des instruments les plus avancés dans le domaine de la microscopie électronique. Il utilise un faisceau focalisé d'électrons pour produire des images détaillées des propriétés de surface et de la topographie des échantillons. Le SEM est capable de fournir des images haute résolution d'échantillons, allant de 1 nanomètre à 100 micromètres de taille. 6500F est équipé d'un canon à émission de champ Schottky qui permet un fonctionnement à vide ultra-élevé et une excellente stabilité du faisceau. Ce canon est également capable de fournir des capacités d'émission d'électrons à haut courant en maintenant un courant de faisceau constant. L'instrument dispose également d'un système avancé de balayage à grande vitesse qui permet un balayage rapide et l'acquisition d'images. JEOL 6500F est également équipé d'une large gamme de détecteurs optimaux pour différentes applications, tels que les détecteurs d'électrons secondaires (SE), les détecteurs d'électrons à basse et haute vide-arrière diffusés (ESB) et un détecteur de canon à électrons (EGD). Cela permet de collecter différents types d'images électroniques et de données spectroscopiques à partir d'échantillons. Les systèmes à vide élevé munis de l'instrument assurent une détérioration minimale de la surface de l'échantillon. Ce microscope électronique dispose d'un large éventail de logiciels d'analyse d'images qui peuvent être utilisés pour comparer et contraster des images ou obtenir une analyse quantitative en deux et trois dimensions. Outre les modes d'imagerie classiques, ce SEM offre également des capacités d'imagerie uniques telles que l'imagerie optique dans les lentilles, la cathodoluminescence, l'imagerie par contraste de phase et l'imagerie par contraste électrostatique induite par faisceau d'électrons. 6500F est équipé d'une large collection d'accessoires et de périphériques pour répondre aux besoins de nombreuses applications. Cela comprend un étage automatisé XYZ, des modules de manipulation d'images, des chambres environnementales, des systèmes de vide et des dispositifs de prétraitement d'échantillons. L'instrument dispose également d'un système de manipulation robotique des échantillons pour la manipulation automatisée des échantillons et d'une cellule d'immersion basse pression pour l'examen des échantillons à des pressions plus élevées. La combinaison de ses caractéristiques et capacités fait de JEOL 6500F un instrument extrêmement polyvalent pour un large éventail d'applications, de l'étude des matériaux organiques et non conducteurs, à la caractérisation des nano-dispositifs. Ce SEM offre des performances exceptionnelles et une polyvalence pour l'imagerie et l'analyse.