Occasion JEOL 7100FLV #9315317 à vendre en France
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ID: 9315317
Variable Pressure Scanning Electron Microscope (VP-SEM)
THERMO SuperDry EDS
Backscattered electron detector
Secondary electron detector.
JEOL 7100FLV est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) qui combine technologie de pointe avec facilité d'utilisation. C'est un microscope électronique à balayage vertical qui utilise un canon à émission de champ et ultralow tension (ULV) optique d'électrons pour produire des images de super haute résolution. Il est capable de produire à la fois des images de microscopie électronique à balayage haute résolution (SEM) et de microscopie électronique à transmission (TEM). Le faisceau d'électrons de 7100FLV est généré par un pistolet à émission de champ, qui fournit une résolution et une transmission maximale grandement améliorées, permettant la production d'images à haute résolution. Ceci est contraire aux SEM traditionnels avec un canon cathodique froid, qui souffrent d'un flou de mouvement important qui peut affecter négativement la résolution de l'image. L'optique ULV de JEOL 7100FLV améliore encore la résolution du SEM, permettant l'observation et l'analyse de caractéristiques extrêmement petites. 7100FLV est également capable d'une grande variété de modes d'imagerie. Il s'agit notamment des modes d'imagerie standard du champ lumineux (BF) et du champ sombre (DF), ainsi que du microscope à lumière corrélative (CLIM). Cela permet une corrélation entre le SEM et la microscopie optique pour l'analyse multidimensionnelle. De plus, en utilisant un porte-échantillon de référence humide, on peut placer des échantillons humides dans la chambre SEM pour analyse. JEOL 7100FLV comprend également une interface informatique avec un logiciel facile à utiliser qui permet de capturer, zoomer, tourner et analyser des images. Ce paquet comprend également un logiciel puissant de traitement et d'analyse d'images permettant une large gamme d'analyses et de mesures. 7100FLV est un choix idéal pour les scientifiques et les chercheurs dans une variété de domaines, en particulier ceux nécessitant l'imagerie de petites caractéristiques. Ce SEM offre une excellente résolution et une large gamme de fonctionnalités d'imagerie avec une interface logicielle facile à utiliser, ce qui en fait un instrument puissant pour même le travail d'imagerie le plus complexe.
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